Occasion ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5 #293830807 à vendre en France

MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE (AFM) MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE Autoprobe M5 est un microscope de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution à l'échelle nanométrique. L'AFM est un outil essentiel dans le domaine de la nanotechnologie, de la science des matériaux et de la biologie, permettant aux chercheurs d'étudier la topographie de surface, les propriétés mécaniques et les interactions au niveau atomique. Une des caractéristiques clés de l'AFM Autoprobe M5 est sa capacité à obtenir une imagerie à résolution atomique avec précision et précision. Le microscope utilise une pointe de sonde pointue, typiquement en silicium ou en nitrure de silicium, qui balaye la surface de l'échantillon en mode sans contact. Lorsque la pointe de la sonde s'approche de la surface de l'échantillon, les forces entre la pointe et les atomes à la surface provoquent la flexion de la pointe, permettant au microscope de mesurer les forces atomiques et de générer une image haute résolution de la topographie de surface. L'Autoprobe AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE M5 est équipé de modes d'imagerie avancés, y compris le mode de contact, le mode de prélèvement et la microscopie à force dynamique, permettant aux chercheurs de choisir le mode le plus approprié pour leurs applications spécifiques. En mode contact, la pointe de sonde met en contact physique la surface de l'échantillon, fournissant des informations sur la rugosité de la surface et les propriétés mécaniques. Le mode de prélèvement, également appelé mode de contact intermittent, permet une imagerie douce des échantillons délicats et réduit les forces d'interaction bout-échantillon. La microscopie à force dynamique mesure les forces d'interaction entre l'extrémité de la sonde et la surface de l'échantillon, fournissant des indications précieuses sur les propriétés du matériau et les interactions de surface. De plus, l'AFM Autoprobe M5 dispose d'un étage motorisé qui permet un balayage automatisé et un positionnement précis de l'échantillon. Cette fonctionnalité est particulièrement utile pour les applications de numérisation à grande surface et d'imagerie à haut débit, où plusieurs échantillons doivent être analysés rapidement et précisément. Le microscope est équipé d'un puissant système laser pour détecter la déviation de l'extrémité de la sonde et d'un système d'acquisition de données à grande vitesse pour capturer des images à haute résolution spatiale. L'Autoprobe M5 d'AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE comprend également des logiciels avancés pour l'analyse de données et le traitement d'images, permettant aux chercheurs d'extraire des informations quantitatives des images et de produire des rapports détaillés sur les propriétés de surface. L'AFM Autoprobe M5 est un outil polyvalent qui peut être utilisé pour un large éventail d'applications, y compris l'étude des nanomatériaux, la caractérisation des échantillons biologiques, l'étude des modifications de surface et l'analyse des couches minces et des revêtements. Le microscope est largement utilisé dans les laboratoires de recherche, les établissements universitaires et les milieux industriels pour la recherche fondamentale, le développement de produits et le contrôle de la qualité. En conclusion, l'AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE Autoprobe M5 est un microscope de pointe qui offre une imagerie haute résolution, des mesures précises et des modes d'imagerie avancés pour un large éventail d'applications. Sa polyvalence, sa précision et ses capacités d'automatisation en font un outil essentiel pour les chercheurs qui cherchent à explorer le monde nanométrique et à repousser les limites de la science et de la technologie.