Occasion BRUKER Contour GT-X #293745272 à vendre en France

BRUKER Contour GT-X est un microscope optique de pointe conçu pour des applications d'imagerie haute résolution et de métrologie de surface dans des contextes de recherche et industriels. Cet instrument innovant combine une optique de précision, une technologie de balayage à grande vitesse et des algorithmes logiciels avancés pour fournir des mesures topographiques et tridimensionnelles (3D) précises et détaillées d'un large éventail de types d'échantillons. Une des caractéristiques clés de Contour GT-X est sa capacité d'imagerie confocale, qui permet un contrôle précis du plan focal et la collecte d'images nettes et claires avec une profondeur de champ exceptionnelle. Ceci est particulièrement utile pour l'imagerie d'échantillons avec topographie ou rugosité de surface complexe, car il permet aux utilisateurs de se concentrer sélectivement sur des régions spécifiques d'intérêt et d'éliminer la lumière hors focale du dessus et du dessous du plan focal. Le microscope est équipé d'un objectif haute résolution qui peut atteindre une résolution latérale de sous microns et une résolution verticale à l'échelle du nanomètre, ce qui permet de caractériser avec précision des caractéristiques de surface telles que la rugosité, la texture, les étapes, les rayures et les motifs d'usure. L'utilisation d'étages motorisés de précision et d'algorithmes de balayage avancés assure des mesures répétables et fiables, même sur des échantillons avec de grandes surfaces ou des pentes abruptes. En plus de ses capacités d'imagerie, BRUKER Contour GT-X propose une gamme d'outils de métrologie avancés pour analyser la morphologie et la texture de surface. Le logiciel intégré permet aux utilisateurs d'effectuer des mesures quantitatives de paramètres tels que la rugosité moyenne (Ra), la rugosité racine-moyenne-carrée (Rq), la hauteur crête-vallée (Rz) et les corrélations spatiales des caractéristiques de surface. Ces mesures peuvent être visualisées en temps réel sur un écran haute résolution pour une rétroaction et une analyse immédiates. En outre, le microscope est équipé d'une gamme d'options d'éclairage, y compris le champ lumineux, le champ noir et le contraste d'interférence différentielle (DIC), permettant aux utilisateurs d'optimiser le contraste et la visibilité pour différents types d'échantillons et conditions de surface. La conception flexible du microscope permet également l'intégration avec d'autres accessoires tels que des chambres environnementales, des étages inclinés motorisés et des filtres d'imagerie spécialisés pour des capacités d'imagerie améliorées. Contour GT-X est conçu avec des interfaces logicielles conviviales et des contrôles intuitifs, le rendant accessible aux utilisateurs novices et expérimentés. Le système est entièrement automatisé, avec des fonctionnalités telles que l'autofocus, l'auto-exposition et l'auto-alignement pour des flux de travail d'imagerie rapides et efficaces. Le logiciel comprend également des outils avancés d'analyse de données pour générer des cartes de surface personnalisables, des placettes de profil, des scans linéaires, des histogrammes et des rapports statistiques. Dans l'ensemble, BRUKER Contour GT-X est un microscope optique polyvalent et puissant qui offre des capacités d'imagerie et de métrologie inégalées pour un large éventail d'applications, y compris la science des matériaux, les sciences de la vie, la fabrication de semi-conducteurs, la microélectronique, l'ingénierie de précision et le contrôle de la qualité. Grâce à sa qualité d'imagerie exceptionnelle, à ses mesures de haute précision et à sa conception conviviale, le microscope est bien adapté aux laboratoires de recherche, aux établissements universitaires et aux installations industrielles qui cherchent à caractériser et à analyser les propriétés de surface avec une précision et un détail inégalés.