Occasion BRUKER Dimension XR #293820697 à vendre en France

BRUKER Dimension XR est un microscope à force atomique avancé (AFM) qui offre des capacités de pointe pour l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique. Cet instrument de haute performance est conçu pour répondre aux exigences des applications actuelles de la recherche et de l'industrie, offrant une résolution, une sensibilité et une flexibilité exceptionnelles pour un large éventail de tâches d'imagerie et de mesure. Dimension XR est équipé d'une variété de fonctionnalités de pointe qui le distinguent des autres systèmes AFM sur le marché. Un des attributs clés de ce microscope est ses capacités d'imagerie haute résolution, permettant aux utilisateurs de visualiser la topographie de surface avec une précision nanométrique. Le modèle XR offre une plage maximale de scan allant jusqu'à 100 micromètres dans les deux directions X et Y, permettant la capture d'images détaillées sur une large zone. En plus de ses impressionnantes capacités d'imagerie, BRUKER Dimension XR offre des modes de balayage avancés qui permettent aux utilisateurs de sonder les propriétés des matériaux avec une sensibilité exceptionnelle. L'instrument est équipé de plusieurs modes de balayage, y compris le mode contact, le mode robinet et le mode sans contact, chacun offrant des avantages uniques pour différents types d'échantillons et tâches de mesure. Le modèle XR prend également en charge les techniques de balayage avancées telles que le tapotage de force, qui fournit une résolution d'imagerie améliorée et la sensibilité pour les échantillons difficiles. Une des caractéristiques majeures de Dimension XR est son microscope optique intégré, qui fournit l'imagerie vidéo en direct de la pointe AFM et de l'échantillon pendant le balayage. Cette caractéristique permet un alignement précis de la pointe AFM et une confirmation visuelle de la zone de balayage, ce qui facilite l'obtention de résultats d'imagerie de haute qualité. Le microscope optique peut être utilisé pour localiser rapidement les régions d'intérêt sur la surface de l'échantillon, en simplifiant le processus d'installation et en rationalisant l'acquisition de données. BRUKER Dimension XR est conçu pour un maximum de polyvalence et de facilité d'utilisation, avec une interface conviviale qui permet un contrôle intuitif des paramètres de numérisation et des paramètres d'imagerie. Le système est compatible avec un large éventail de types d'échantillons, y compris les matériaux semi-conducteurs, les polymères, les échantillons biologiques, et plus encore, ce qui le rend adapté à une variété d'applications industrielles et de recherche. Le modèle XR offre également des capacités de balayage automatisé, permettant une collecte et une analyse de données efficaces sans intervention manuelle. En plus de ses capacités d'imagerie et de mesure, Dimension XR est équipé d'outils d'analyse de données avancés qui facilitent l'analyse quantitative des images AFM. Le système comprend des logiciels pour le traitement d'image, l'analyse de la rugosité de surface et la cartographie des propriétés mécaniques, permettant aux utilisateurs d'extraire des informations précieuses de leurs données AFM rapidement et facilement. Avec sa combinaison d'imagerie haute performance, de modes de balayage avancés et d'interface utilisateur intuitive, BRUKER Dimension XR est un outil puissant pour la recherche et le développement à l'échelle nanométrique.