Occasion BRUKER / VEECO Dimension Edge #293640601 à vendre en France

BRUKER / VEECO Dimension Edge
ID: 293640601
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Edge est un microscope à balayage ultramoderne qui combine les meilleurs éléments de microscopie électronique à balayage (SEM) et de microscopie à force atomique (AFM). VEECO Dimension Edge utilise un design qui permet de réaliser une gamme de techniques avec le même instrument sans avoir besoin de machines multiples. Il est adapté à la fois à la recherche et aux applications industrielles, telles que les polymères d'imagerie, les métaux et les assemblages moléculaires. L'instrument est composé de trois parties principales : une chambre de balayage, une source d'imagerie et des sondes de balayage. La chambre de balayage est une chambre à vide, qui élimine la contamination et dispose d'une colonne d'environnement contrôlée par ordinateur qui permet de régler la pression et l'humidité. La source d'imagerie est VEECO state-of-the-art Electron Optics Technology (EOT), qui comprend une source photonique BPM-801 et un canon à émission de champ. Cette source est capable d'images à haute résolution, telles que l'imagerie à l'échelle nanométrique, avec une vitesse de balayage rapide et une résolution latérale et verticale élevée. Les sondes de balayage sont variables et peuvent être utilisées en mode cantilever, en mode taraudage et en mode contact pour une plus grande flexibilité. BRUKER Dimension Edge offre également une large gamme d'options pour personnaliser l'instrument pour des applications spécifiques. L'interface utilisateur principale consiste en un grand écran LCD à console à vide haute résolution avec écran tactile à matrice active. Cet écran tactile est utilisé pour accéder aux fonctions de contrôle, à la sélection des paramètres et à l'acquisition de données. Parmi les nombreux paramètres disponibles sont les paramètres du moteur pour la haute vitesse, le balayage à faible bruit et les paramètres de capture d'image pour une résolution et un contraste améliorés. Dimension Edge dispose également d'un mode d'analyse statistique intégré pour évaluer la taille des échantillons, réduire le bombardement des particules pendant l'imagerie et évaluer les limites des grains. Le microscope a également la capacité d'effectuer la spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier étendue (FTIR) et la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS). En bref, BRUKER/VEECO Dimension Edge est un microscope à balayage polyvalent et puissant, capable d'effectuer une imagerie, une analyse et une caractérisation de haute qualité à l'échelle nanométrique. Sa combinaison de source d'imagerie avancée, de colonne environnementale optimisée et de sondes de balayage facilement réglables en font un choix idéal pour un large éventail d'applications.
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