Occasion BRUKER / VEECO Dimension Edge #293665810 à vendre en France

BRUKER/VEECO Dimension Edge est un microscope acoustique à balayage conçu pour l'imagerie avancée et haute résolution des surfaces d'échantillons. Ce matériel de microscopie polyvalent est un outil essentiel pour analyser les informations optiques, électriques, mécaniques et acoustiques. Avec son design tout-en-un, VEECO Dimension Edge offre un accès facile à une gamme complète de capacités d'imagerie, notamment : topographie 3D, imagerie photorésiste, analyse d'amplitude et de phase, imagerie acoustique et visualisation. BRUKER Dimension Edge dispose d'un contrôleur haute performance, d'une tête d'imagerie avancée et d'un système de focalisation sans contact. Le contrôleur est conçu pour une imagerie rapide et robuste sur un large éventail de matériaux et d'environnements. Il dispose d'une acquisition de données en temps réel, auto-optimisant et analyse en temps réel pour des résultats rapides et précis. La tête d'imagerie avancée combine la microscopie acoustique à balayage, la profilométrie optique et l'imagerie en champ lumineux pour fournir une imagerie complète des surfaces. L'unité de focalisation sans contact maintient le foyer pendant le processus de balayage. Dimension Edge offre un fonctionnement efficace dans une grande variété d'applications, y compris la recherche et les environnements industriels. La machine est adaptée à l'imagerie de composants semi-conducteurs, de circuits, de panneaux plats et de matériaux d'affichage, de masques de photolithographie et de systèmes microélectromécaniques (MEMS). Le logiciel inclus permet la mise en place rapide et l'optimisation des paramètres d'imagerie de l'outil, ainsi que la denotisation pour une meilleure qualité d'imagerie. Avec ses multiples capacités d'imagerie et ses fonctionnalités puissantes, BRUKER/VEECO Dimension Edge est un choix idéal pour une variété d'applications, de l'analyse scientifique au contrôle de qualité. Ce microscope unique en son genre offre des performances et une précision supérieures pour l'affichage avancé des topographies microscopiques de surface.