Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #293664080 à vendre en France

BRUKER / VEECO Dimension Icon
ID: 293664080
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope à balayage polyvalent et très avancé (SPM) utilisé pour l'imagerie topographique dans une variété d'applications de recherche et industrielles. L'équipement est doté d'un design innovant qui fournit aux utilisateurs des mesures de précision, un balayage rapide et une imagerie à haute résolution. VEECO Dimension Icon dispose d'une conception mécanique 3 axes qui utilise une étape hybride pour effectuer des manipulations XYZ, lui permettant d'atteindre des positions plus élevées et une plus grande précision sans risque de dommages. Le système est également livré avec une unité de sélection de sonde 8 canaux, qui permet aux utilisateurs de sélectionner les sondes en fonction de leurs besoins en topographie de surface. BRUKER Dimension Icon est capable de mesurer non seulement la topographie de surface, mais aussi d'autres caractéristiques telles que la largeur des crêtes, la hauteur des marches, la taille des grains et la morphologie. En outre, cette machine comprend également une pointe de cantilever nano-stylé qui fournit aux utilisateurs une résolution de mesure de topographie de surface encore plus grande. L'outil est également équipé d'une optique d'immersion multi-fixes, d'un microscope à balayage tunnel (STM) et d'un mode d'oxydation à haute température, qui fournissent tous à l'utilisateur des résultats de balayage à plus haute résolution. En outre, Dimension Icon dispose d'une interface logicielle puissante et intuitive qui permet aux utilisateurs de contrôler complètement les paramètres de balayage. Il est doté d'un puissant outil d'analyse statistique pour le traitement des données d'imagerie et de spectre, la manipulation des données et la présentation des données. Le logiciel permet également aux utilisateurs de percevoir et d'analyser les données en temps réel. Enfin, ce modèle est robuste et hautement professionnel. Sa construction durable garantit de bonnes performances même dans des conditions extrêmes. En outre, l'équipement est hautement compatible et peut être utilisé en combinaison avec d'autres systèmes SPM et systèmes de différents fournisseurs. Dans l'ensemble, BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope à balayage avancé au design polyvalent. Ses caractéristiques innovantes, telles que l'optique d'immersion multi-fixe, le microscope à balayage tunnel et le mode d'oxydation à haute température, offrent aux utilisateurs les mesures de topographie de surface les plus précises possibles. En outre, son interface logicielle intuitive et sa conception robuste le rendent adapté à une grande variété d'applications industrielles et de recherche.
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