Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #293768905 à vendre en France

BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope à force atomique (AFM) conçu pour l'imagerie nanométrique, le profilage et la métrologie. Il est capable de topographie haute résolution et d'imagerie d'échantillons à l'échelle atomique. VEECO Dimension Icon utilise des capteurs de pointe, à faible bruit, en boucle fermée pour le contrôle de la hauteur. Cela permet un débit plus élevé et une plus grande reproductibilité pour l'imagerie et le profilage des échantillons. Un contrôleur de balayage avancé est conçu pour maintenir un positionnement précis de la zone de balayage tout en assurant le bon fonctionnement de l'AFM. BRUKER Dimension Icon comprend plusieurs fonctionnalités innovantes telles que la détection de flexion de cantilever, le parage dynamique de la force et une option de correction de la force électrostatique en option pour une utilisation en présence de champs électriques ou de charges électriques. L'AFM est également conçu pour être compatible avec les logiciels et les accessoires standard de l'industrie, y compris l'interface de la suite logicielle Nérabilité WizardMD. Ce logiciel convivial permet l'imagerie en temps réel, le profilage et d'autres métrologie haute résolution. L'AFM est également compatible avec plusieurs autres systèmes d'acquisition de données. Dimension Icon est disponible avec une variété de configurations de systèmes, y compris des modules SEM/AFM combinés, la lumière blanche et l'imagerie confocale laser, et l'électronique de balayage externe avec inversé, étages d'échantillons chauffés. L'AFM dispose d'une large gamme d'accessoires de préparation d'échantillons et d'imagerie, y compris des conseils de numérisation automatisés pour l'imagerie haute résolution. En outre, l'AFM dispose d'un système optique optionnel pour la spectroscopie visible et infrarouge, permettant à l'utilisateur d'analyser ses échantillons à l'échelle nanométrique. BRUKER/VEECO Dimension Icon est conçu pour gérer des applications d'imagerie haute performance dans une variété d'environnements, y compris le vide élevé, l'air, et en dessous des températures subzero. Cela permet aux chercheurs d'imiter une variété de matériaux avec plus de facilité. En conclusion, VEECO Dimension Icon est un puissant microscope à force atomique conçu pour l'imagerie et le profilage à l'échelle nanométrique. Cet instrument est capable de résolution à l'échelle atomique et intègre des caractéristiques innovantes telles que la détection de flexion des cantilever vivants et le parage dynamique de la force. Il est également compatible avec une large gamme de logiciels et d'accessoires conviviaux. L'AFM est conçu pour une utilisation dans une variété d'environnements, y compris le vide, l'air et des températures sous zéro, et est idéal pour les applications d'imagerie haute performance.