Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827010 à vendre en France

BRUKER/VEECO Dimension Icon est un instrument de recherche et de laboratoire unique et de pointe. Il s'agit d'un microscope à force atomique multi-techniques (AFM) pour la caractérisation des échantillons à l'échelle des nanomètres. VEECO Dimension Icon est le plus souvent utilisé pour la recherche sur les matériaux et les semi-conducteurs, en particulier pour analyser les processus dépendants de la surface et les propriétés des matériaux nanométriques. L'équipement comprend un microscope à balayage MultiMode 8 (SMM) qui peut supporter une variété de modes de balayage AFM, y compris le mode Contacting, le mode Tapping, le mode de contact dynamique et le mode de balayage statique. Cela permet aux utilisateurs de produire des images et des données à l'échelle nanométrique cohérentes et reproductibles avec une fiabilité accrue. Le système dispose également d'un module avancé de nano-métrologie, conçu pour mesurer et analyser les structures nanométriques avec une résolution sous-nanométrique. BRUKER Dimension Icon est conçu avec une architecture ouverte qui permet une intégration transparente avec une foule d'accessoires et d'instruments externes. Il est équipé d'un grand écran tactile visuel et de commandes tactiles, fournissant une interface utilisateur intuitive. Il fournit un large éventail d'outils et de techniques pour faciliter l'acquisition et l'analyse de données personnalisées, tels que la crête, l'autostitrage, la correction de dérive et l'analyse automatisée. L'unité comprend également une machine de gestion thermique avancée qui assure des températures constantes et un fonctionnement stable pour les applications de recherche les plus exigeantes. L'outil est également compatible avec une variété d'étapes de manipulation et de sondes de balayage, offrant un contrôle manuel et automatisé des interactions bout-échantillon en mode dynamique et statique. L'actif comprend un porte-échantillons pour des échantillons allant de quelques microns à plusieurs millimètres. Il est équipé d'un étage d'échantillonnage automatisé et d'un étage de balayage motorisé, permettant un contrôle exact du mouvement de l'échantillon. Dimension Icon est un instrument de recherche et de laboratoire idéal pour la science des matériaux, la recherche sur les semi-conducteurs et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Sa combinaison de fonctionnalités avancées, d'architecture ouverte et d'interface conviviale en fait l'outil parfait pour les chercheurs à la recherche de fonctionnalités avancées et de résultats cohérents.