Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827011 à vendre en France
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ID: 293827011
Atomic Force Microscope (AFM)
X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm
Z Range: 10 μm, 9.5 μm
Sample size / Holder: 210 mm Vacuum chuck
Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers
Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise
Cables
Air system controller
PC
Mouse
Keyboard
Monitor
Spare parts
Z Sensor noise level:
35 pm RMS
50 pm RMS force
Vacuum sample chuck: 210 mm
X and Y Axis Position stage:
Rotating chuck: 180 mm x 150 mm
Unidirectional: 2 μm
Bidirectional: 3 μm
Microscope optics:
Digital camera: 5-Megapixel
Viewing area: 180-1465 µm
Digital zoom and motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope à force atomique (AFM) de pointe qui offre un accès sans précédent à la science nanométrique. Cet instrument d'imagerie sophistiqué est conçu pour fournir aux chercheurs la résolution la plus élevée possible des structures et des propriétés de surface en permettant l'imagerie à l'échelle nanométrique et la caractérisation des échantillons biologiques et inorganiques. Il dispose d'une tête de balayage polyvalente avec des modes de balayage flexibles, un équipement d'approche d'échantillon unique et un système de contrôle puissant. VEECO Dimension Icon a une grande distance de travail de 300mm pour faciliter le changement d'échantillon et offre un design objectif avec une ouverture jusqu'à 5µm. Cela permet l'imagerie de petites caractéristiques avec des performances d'imagerie pointues et une dérive thermique minimale. La dynamique de l'instrument est jusqu'à 15N avec un niveau de bruit supérieur à 0,5 nanoampère, tandis que la résolution est de 100 picomètres. La tête de balayage avancée de l'instrument est capable d'imagerie topographique ainsi que le mode de prélèvement, microscopie à force latérale (LFM) et balayage de modulation Z-piezo. La tête contient également neuf scanners piézo avec jusqu'à 6µmscanning zone, lui permettant de prendre des images haute résolution avec des vitesses de balayage rapides. BRUKER Dimension Icon utilise une unité d'approche d'échantillon unique qui est intégrée dans la microscope optique. Cette machine offre un positionnement vertical précis de l'échantillon avec une résolution de 10 nanomètres. Il permet également des mesures de contact direct de surface sans avoir besoin de cantilever et réduit considérablement la complexité des études. Dimension Icon est contrôlé par un ordinateur haute performance avec une interface conviviale. Cet outil est utilisé pour définir les paramètres de numérisation et d'acquisition de données, ainsi que pour analyser et stocker les données d'image. Il permet également une intégration aisée avec d'autres instruments tels que les microscopes optiques. Dans l'ensemble, BRUKER/VEECO Dimension Icon est un instrument d'imagerie puissant qui offre des performances inégalées pour la recherche à l'échelle nanométrique. Avec ses modes de balayage flexibles, son atout unique d'approche d'échantillons et son modèle de contrôle intuitif, les chercheurs peuvent explorer les propriétés des structures de surface avec un niveau de détail sans précédent.
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