Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #9037640 à vendre en France
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Vendu
ID: 9037640
Atomic force microscopes
X-Y scan range: 90µm x 90µm typical, 85µm minimum
Z range: 10µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum
Vertical noise floor: <30pm RMS in appropriate environment typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
X-Y position noise (closed-loop): ≤0.15nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
X-Y position noise (open-loop): ≤0.10nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
Z sensor noise level (closed-loop): 35pm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz);
50pm RMS, force curve bandwidth (0.1Hz to 5kHz)
Integral nonlinearity (X-Y-Z): <0.5% typical
Sample size/holder: 210mm vacuum chuck for samples, ≤210mm diameter, ≤15mm thick
Motorized position stage:
(X-Y axis) 180mm × 150mm inspectable area;
2µm repeatability, unidirectional;
3µm repeatability, bidirectional
Microscope optics:
5-megapixel digital camera;
180µm to 1465µm viewing area;
Digital zoom and motorized focus
Controller: NanoScope V
Workstation: Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical and visual access
Vibration isolation: Integrated, pneumatic
Acoustic isolation: Operational in environments with up to 85dBC continuous acoustic noise
AFM modes:
Standard: ScanAsyst, TappingMode (air), Contact Mode, Lateral Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM, Force Spectroscopy, PeakForce Tuna, Force Volume, EFM, Surface Potential, Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy
Optional: PeakForce QNM, HarmoniX, Nanoindentation, Nanomanipulation, Nanolithograpy, Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid), Torsional Resonance Mode, Dark Lift, STM, SCM, C-AFM, SSRM, TUNA, TR-TUNA, VITA.
BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope à force atomique (AFM) de pointe qui offre un accès sans précédent à la science nanométrique. Cet instrument d'imagerie sophistiqué est conçu pour fournir aux chercheurs la résolution la plus élevée possible des structures et des propriétés de surface en permettant l'imagerie à l'échelle nanométrique et la caractérisation des échantillons biologiques et inorganiques. Il dispose d'une tête de balayage polyvalente avec des modes de balayage flexibles, un équipement d'approche d'échantillon unique et un système de contrôle puissant. VEECO Dimension Icon a une grande distance de travail de 300mm pour faciliter le changement d'échantillon et offre un design objectif avec une ouverture jusqu'à 5µm. Cela permet l'imagerie de petites caractéristiques avec des performances d'imagerie pointues et une dérive thermique minimale. La dynamique de l'instrument est jusqu'à 15N avec un niveau de bruit supérieur à 0,5 nanoampère, tandis que la résolution est de 100 picomètres. La tête de balayage avancée de l'instrument est capable d'imagerie topographique ainsi que le mode de prélèvement, microscopie à force latérale (LFM) et balayage de modulation Z-piezo. La tête contient également neuf scanners piézo avec jusqu'à 6µmscanning zone, lui permettant de prendre des images haute résolution avec des vitesses de balayage rapides. BRUKER Dimension Icon utilise une unité d'approche d'échantillon unique qui est intégrée dans la microscope optique. Cette machine offre un positionnement vertical précis de l'échantillon avec une résolution de 10 nanomètres. Il permet également des mesures de contact direct de surface sans avoir besoin de cantilever et réduit considérablement la complexité des études. Dimension Icon est contrôlé par un ordinateur haute performance avec une interface conviviale. Cet outil est utilisé pour définir les paramètres de numérisation et d'acquisition de données, ainsi que pour analyser et stocker les données d'image. Il permet également une intégration aisée avec d'autres instruments tels que les microscopes optiques. Dans l'ensemble, BRUKER/VEECO Dimension Icon est un instrument d'imagerie puissant qui offre des performances inégalées pour la recherche à l'échelle nanométrique. Avec ses modes de balayage flexibles, son atout unique d'approche d'échantillons et son modèle de contrôle intuitif, les chercheurs peuvent explorer les propriétés des structures de surface avec un niveau de détail sans précédent.
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