Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #9312250 à vendre en France

ID: 9312250
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope à balayage de sonde qui offre des capacités inégalées pour la recherche et la mesure des caractéristiques de surface. Il combine plusieurs instruments en un seul, dont la microscopie à balayage tunnel (STM), la microscopie à force atomique (AFM), le mode de contact AFM et la caractérisation électrique/optique/mécanique in situ. Il propose également l'imagerie simultanée de modes multiples en un seul endroit, un fonctionnement à faible bruit, une détection dynamique des cantilever et une intégration aisée des accessoires. VEECO Dimension Icon utilise les dernières avancées en nanotechnologie, permettant aux chercheurs d'étudier une grande variété de matériaux de toute échelle, de l'échelle nanométrique aux matériaux en vrac. L'équipement comprend un design modulaire unique qui le rend facile à adapter aux besoins de n'importe quel utilisateur. Il utilise trois moteurs de précision pour le contrôle d'amplitude et agit comme un système de balayage avancé, ce qui le rend capable d'imagerie haute résolution. Il comprend également plusieurs modes d'imagerie qui permettent une variété d'applications telles que l'imagerie chimique, la topographie et la piézoresponse. L'instrument comporte également une unité de régulation de température intégrée. Cela garantit des mesures précises et la stabilité de la température dans toute la plage de mesure. Il présente également une stabilité phototech, dans laquelle le microscope maintient le foyer et l'alignement à un niveau constant lorsque la position de l'échantillon est changée en raison de la machine optique résistant aux vibrations. En outre, BRUKER Dimension Icon combine une grande zone d'échantillonnage avec des images détaillées haute résolution, il est donc idéal pour une utilisation dans l'analyse de matériaux avancés et la nanotechnologie. L'outil dispose également d'une interface utilisateur graphique intuitive et facile à utiliser. Il fournit une représentation visuelle du matériau et de ses propriétés, ainsi que des coordonnées x/y/z précises et des balayages, ce qui facilite l'analyse des données. Enfin, l'actif fournit une gamme d'outils logiciels qui permettent l'analyse détaillée des données et leur intégration avec d'autres systèmes. Dans l'ensemble, le microscope à balayage Dimension Icon est un modèle puissant et polyvalent pour l'étude des caractéristiques de surface de n'importe quelle échelle. Il offre une imagerie haute résolution et plusieurs modes d'imagerie, une stabilité phototech, un contrôle intégré de la température et une interface graphique intuitive, ainsi que divers outils logiciels pour l'intégration et l'analyse de données.
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