Occasion BRUKER / VEECO Dimension Icon #9393344 à vendre en France

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ID: 9393344
Style Vintage: 2012
Atomic Force Microscope (AFM) Tool functionality: Lab tool AFM Measurement tool VC-C Floor vibration Controller box non-functional Does not include test report 2012 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension Icon est un microscope électronique à balayage qui combine les caractéristiques avancées d'un SEM avec la polyvalence d'un AFM. Ce microscope particulier est idéal pour la caractérisation de petits échantillons et structures en raison de sa capacité à fonctionner à un haut niveau de précision sur une large gamme de dimensions. Il est capable de capturer des images et des données d'une variété de matériaux, de la matière organique aux polymères, matériaux inorganiques, et plus encore. VEECO Dimension Icône est souvent l'instrument de choix pour les chercheurs cherchant à obtenir des images nanoscopiques précises et détaillées de leurs échantillons. Le microscope peut capturer une variété de caractéristiques, y compris la topographie, la composition, les propriétés électriques, et plus encore. Il est équipé de systèmes automatiques d'imagerie et d'analyse, permettant des résultats rapides et efficaces. L'interface utilisateur intuitive permet une navigation facile des fonctionnalités du microscope et son logiciel complet garantit que les données peuvent être acquises et analysées rapidement et efficacement. BRUKER Dimension Icon possède une variété de caractéristiques qui en font un choix idéal pour les chercheurs. Par exemple, ses multiples systèmes de détection permettent des capacités d'imagerie avancées, fournissant des images haute résolution. Avec Dimension Icon, les utilisateurs peuvent se faire une meilleure idée des propriétés chimiques et mécaniques d'un échantillon, ce qui donne de meilleurs résultats et des interprétations plus précises. Le microscope offre également une variété d'outils pour l'imagerie nanoscopique, y compris la microscopie à force atomique (AFM), la microscopie à balayage tunnel (STM), et les courbes de distance de force (FDC). Ensemble, ces outils peuvent fournir des images détaillées d'un échantillon, de sa topographie de surface à sa chimie de surface. Cette performance polyvalente en fait un excellent choix pour la collecte d'une variété de données analytiques sur l'échantillon. BRUKER/VEECO Dimension Icon est un outil puissant pour l'imagerie et l'analyse de petits échantillons et structures. Son ensemble polyvalent, combiné à son interface utilisateur intuitive et à son logiciel complet, en font un excellent choix pour une variété de projets de recherche. Grâce à ses systèmes automatiques d'imagerie et d'analyse, les données peuvent être acquises et analysées rapidement et avec précision, ce qui permet à l'utilisateur d'obtenir des résultats fiables.
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