Occasion BRUKER / VEECO Dimension X3D 340 #293766215 à vendre en France

BRUKER/VEECO Dimension X3D 340 est un puissant microscope à sonde à balayage (SPM) qui permet la nanométrologie et la manipulation tridimensionnelles in situ. Doté d'une optique aux rayons X de pointe, d'une réduction active des échantillons et d'options environnementales avancées, il est un outil polyvalent conçu pour répondre aux exigences des applications de recherche les plus exigeantes. Les composants de base du SPM comprennent un scanner en boucle fermée, une électronique d'acquisition rapide, un équipement de commande robuste et un capteur de force sensible. VEECO Dimension X3D 340 dispose également d'un nano-positionneur propriétaire qui permet un balayage rapide de la surface de l'échantillon avec une grande précision. Ceci permet de caractériser à la fois les propriétés matérielles et électriques à l'échelle nanométrique. La sonde du système est basée sur la microscopie à force atomique (AFM), avec des options de contact et de mode de balayage pour l'imagerie topographique et dynamique. Des options environnementales avancées telles que le contrôle thermique, le contrôle de l'humidité, le traitement du plasma et d'autres capacités de manipulation des échantillons permettent d'étudier les matériaux in situ jusqu'au niveau angström. Les capacités de détection de bord sophistiquées de BRUKER Dimension X3D 340 peuvent être utilisées pour étudier des caractéristiques de surface ou pour localiser des objets à haute résolution en trois dimensions. Son « mode multipoint » sur mesure permet de multiples opérations sur le même échantillon avec une grande précision. Son électronique haute vitesse permet de visualiser en temps réel l'interaction bout-échantillon, permettant aux utilisateurs de mieux comprendre la dynamique de leurs échantillons. Dimension X3D 340 est livré avec une gamme de logiciels VEECO avancés pour le traitement des données. Ils permettent aux chercheurs de créer des cartes 3D à partir de grands ensembles de données en simplifiant les résultats et de mesurer les propriétés physiques et chimiques à l'échelle nanométrique. L'unité est également compatible avec une gamme de logiciels libres, permettant des solutions sur mesure pour les applications. Le fonctionnement robuste de la machine assure un fonctionnement fiable à long terme sans nécessité de maintenance régulière, tandis que son interface intuitive permet même aux utilisateurs novices de s'installer rapidement et efficacement. Idéal pour des applications telles que la nanolithographie, la microscopie à balayage et la nanomanipulation, BRUKER/VEECO Dimension X3D 340 est l'outil parfait pour la recherche à l'échelle nanométrique.