Occasion BRUKER / VEECO Dimension X3D #9150545 à vendre en France
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ID: 9150545
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Atomic Force Microscope (AFM), 12"
UI Rack
Main body
Device monitor
2006 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension X3D est un microscope à balayage analytique haute performance (SPM) conçu pour permettre la caractérisation des surfaces sans contact pour diverses applications. Il utilise une technologie de pointe, y compris une gamme de modes de balayage haute résolution pour fournir un niveau de résolution spatiale inégalé. VEECO Dimension X3D est le modèle haut de gamme de la famille Dimension SPM. Il est capable d'analyser des matériaux avec une résolution inférieure à 0,1nm dans un environnement contrôlé, permettant l'imagerie dynamique des caractéristiques et structures nanosifiées. Il permet également des mesures de grande surface avec une résolution latérale exceptionnelle, permettant aux utilisateurs de collecter des données tridimensionnelles complexes rapidement et facilement. BRUKER Dimension X3D est équipé d'une variété de mécanismes de rétroaction thermique et optique ainsi que d'une large gamme de modes de balayage qui permettent aux utilisateurs d'effectuer une variété d'opérations sans impact sur l'échantillon. Il est également équipé d'un étage d'échantillonnage de grande taille qui permet une collecte rapide de données sur une grande surface avec un minimum de mouvement et de dérive thermique. La flexibilité et les capacités de haute résolution de l'appareil permettent aux utilisateurs d'acquérir des données allant de l'échelle nanométrique (p. ex., contamination et analyse chimique) à diverses applications d'imagerie, y compris la topographie, l'imagerie ultra haute résolution et les cartes de paramètres. De plus, Dimension X3D est capable de scanner dans l'air et dans les environnements liquides et de caractériser une grande variété de matériaux, y compris les matériaux organiques et inorganiques, les métaux et les semi-conducteurs. BRUKER/VEECO Dimension X3D comprend également une intégration logicielle de haut niveau, rationalisant l'analyse des données et permettant des fonctions automatisées pour faciliter un fonctionnement convivial. Son SPM convivial permet aux utilisateurs d'effectuer un large éventail d'expériences avec un minimum de formation. VEECO Dimension X3D est un microscope à sonde haute performance conçu pour faciliter le fonctionnement de l'utilisateur et l'imagerie fiable et à haute résolution. Il permet la caractérisation précise des surfaces jusqu'à l'échelle nanométrique et comprend une large gamme d'outils logiciels intégrés qui facilitent l'automatisation et le fonctionnement facile. Avec sa gamme de capacités variées, il est un outil idéal pour les chercheurs qui étudient les nanomatériaux, la science des matériaux, et plus encore.
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