Occasion BRUKER / VEECO Icon 3 #9257586 à vendre en France

BRUKER/VEECO Icon 3 est un microscope à sonde à balayage (SPM) utilisé pour analyser des surfaces d'échantillons à l'échelle nanométrique. Il peut être utilisé pour diverses applications de recherche telles que la science biologique et des matériaux, la physique des semi-conducteurs ou la microélectronique. VEECO Icon 3 utilise un microscope à balayage tunnel (STM) et un microscope à force atomique (AFM). BRUKER Icon 3 offre une large gamme de caractéristiques pour l'analyse d'échantillons. Il dispose d'un équipement d'imagerie numérique haute sensibilité avec une caméra qui permet une analyse facile d'une grande variété de nanostructures. Il dispose également d'un système de mouvement d'étage haute résolution qui permet la manipulation d'échantillons avec une grande précision. L'icône 3 est capable d'imiter des échantillons à une résolution de niveau atomique, et peut mesurer dans des environnements jusqu'à des températures de 4K. La microscopie à balayage tunnel (STM) est une technique d'imagerie non invasive utilisant une sonde conductrice ultra-tranchante, qui est utilisée pour mesurer la topographie de surface d'un échantillon. L'échantillon est monté sur une plaque spéciale, puis la sonde est balayée sur sa surface pendant que l'échantillon est maintenu sous vide. Lorsque la sonde balaie l'échantillon, elle détecte la force quantique, qui est générée entre la sonde et la surface de l'échantillon. Les données obtenues sont recueillies et utilisées pour construire une image de l'échantillon au niveau de l'échelle nanométrique. Cette méthodologie permet au chercheur d'obtenir des informations détaillées sur les caractéristiques de l'échantillon, comme les images de résolution au niveau atomique ou leur composition chimique. La microscopie à force atomique (AFM) est une technique dans laquelle une pointe très fine est balayée sur la surface de l'échantillon afin de mesurer les forces en divers points de l'échantillon. Cette technique permet de visualiser des caractéristiques sur la surface d'un échantillon avec une résolution hors plan d'environ 0,01 nanomètres. BRUKER/VEECO Icon 3 est également capable de suivre plusieurs points d'échantillonnage à la fois pour obtenir une image 3D de la surface. VEECO Icon 3 comprend une variété d'outils et de logiciels pour l'analyse d'échantillons, tels que des logiciels à usage général qui permettent au chercheur d'effectuer des mesures de base d'échantillons, ainsi que des logiciels plus spécifiques. Ces logiciels peuvent fournir une analyse plus approfondie des échantillons, permettant au chercheur d'étudier des propriétés telles que les propriétés électriques et thermiques de l'échantillon. En résumé, BRUKER Icon 3 est un microscope à sonde à haute résolution avec une large gamme de capacités. Son unité d'imagerie haute résolution et sa machine de mouvement de scène permettent aux scientifiques d'étudier les échantillons avec une grande précision, jusqu'à une résolution de niveau atomique. Icon 3 dispose également d'une variété de logiciels pour l'analyse d'échantillons, ce qui en fait un outil indispensable pour la recherche à l'échelle nanométrique.