Occasion BRUKER / VEECO Ultra Scan Control C #9098198 à vendre en France

BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des performances de pointe dans les applications d'imagerie, de spectroscopie et de lithographie. Utilisant une combinaison de détecteurs d'ions haute résolution et de logiciels puissants, VEECO Ultra Scan Control C fournit une analyse détaillée d'une gamme de matériaux, y compris les métaux, les polymères et les matériaux à base de carbone. BRUKER Ultra Scan Control C offre une excellente résolution d'image, en raison de sa faible colonne d'aberration et de son faible bruit de fond. La portée du balayage X-Y de l'instrument peut atteindre 8 mm, et un large éventail de détecteurs fournissent des informations spectroscopiques, telles que l'émission de rayons X, les spectres d'énergie d'électrons Auger et les images élémentaires SEM, qui peuvent être prises chacune à une plage de grandissements allant de 0,5 nm à 10 µm. Ultra Scan Control C dispose d'un système d'autofocus de haute précision qui garantit la qualité de l'image en fournissant une rétroaction corrective, même pour les petits changements de hauteur de l'échantillon. Le système permet également des réglages dynamiques de la profondeur de champ et de grossissement, ainsi que le déplacement le long de l'axe z. En outre, un large éventail de porte-échantillons peut être utilisé, ce qui permet d'étudier des spécimens de géométries différentes. BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C est capable d'effectuer un balayage répété du même échantillon pour permettre une analyse statistique. Une fonction d'alignement d'images (ILA) permet l'imagerie ultra-rapide d'échantillons variables, avec des temps de séjour incroyablement petits. L'ILA automatisée assure également l'imagerie précise de plusieurs échantillons sans nécessité de réalignement. De plus, le système avancé de collecte de signaux permet aux chercheurs de modifier les paramètres de stockage et d'analyse des données. Les fonctionnalités logicielles, telles que la détection des crêtes et des vallées, permettent de mesurer rapidement la taille des pores et des grains, ainsi que la rugosité de surface. VEECO Ultra Scan Control C dispose également d'une gamme d'outils d'analyse et d'évaluation puissants, y compris un écran histogramme, des fonctions d'étiquetage et des cartes de contour bidimensionnelles. Dans l'ensemble, BRUKER Ultra Scan Control C est un appareil SEM avancé qui offre une large gamme de fonctionnalités pour l'imagerie, la spectroscopie et les applications de lithographie, et est capable de fournir une analyse détaillée d'une gamme de matériaux. Avec sa combinaison de détecteurs ioniques haute résolution et de puissantes capacités logicielles, il est un instrument idéal pour les chercheurs dans une variété de disciplines.