Occasion KEYENCE VK-X200 #293759418 à vendre en France

Fabricant
KEYENCE
Modèle
VK-X200
ID: 293759418
Taille de la plaquette: 12"
Microscope, 12".
KEYENCE VK-X200 est un microscope à balayage laser 3D de pointe qui établit de nouvelles normes en matière de capacités d'imagerie et de mesure de précision. Cet instrument innovant combine optique avancée, technologie laser, et algorithmes logiciels pour fournir des mesures de topographie de surface haute résolution et sans contact avec une précision et une vitesse exceptionnelles. VK-X200 est conçu pour un large éventail d'applications dans la recherche, le développement, le contrôle de la qualité et l'analyse des défaillances dans diverses industries, y compris l'automobile, l'électronique, la science des matériaux et la recherche biomédicale. Au cœur du microscope KEYENCE VK-X200 se trouve son système de balayage laser confocal, qui utilise un faisceau laser pour scanner la surface d'un échantillon et capturer des données topographiques 3D avec une résolution sous-micrométrique. Cette technique d'imagerie confocale élimine la lumière non focalisée, entraînant des images avec un contraste et une clarté supérieurs, même sur des surfaces rugueuses ou très réfléchissantes. Le microscope est équipé d'une caméra CCD haute résolution qui capture des images avec jusqu'à 16 millions de pixels, assurant une imagerie détaillée et précise des plus petites caractéristiques de la surface de l'échantillon. VK-X200 offre une large gamme d'options de grossissement, permettant aux utilisateurs de basculer entre des paramètres de grossissement bas et haut pour examiner des échantillons à différentes échelles. Le microscope dispose également d'un étage motorisé avec des capacités automatiques de focalisation en Z, permettant des mesures précises et répétables sur de grandes zones d'échantillonnage. L'interface logicielle intuitive permet aux utilisateurs de contrôler facilement les paramètres d'imagerie, les outils de mesure et les fonctions d'analyse des données, ce qui facilite la production d'images et de données de haute qualité pour une analyse plus poussée. L'une des principales caractéristiques du microscope KEYENCE VK-X200 est ses capacités de mesure avancées, qui comprennent l'analyse de la rugosité de surface, la mesure de la hauteur des marches, le calcul du volume et l'analyse de profil. Le microscope peut quantifier avec précision les paramètres de rugosité de surface tels que Ra, Rz et Sa, fournissant des informations précieuses sur la qualité et la performance de la surface de l'échantillon. En outre, VK-X200 peut mesurer la différence de hauteur entre deux surfaces avec la précision du sous-nanomètre, ce qui le rend idéal pour caractériser les structures de surface et les caractéristiques en détail. Le microscope KEYENCE VK-X200 offre également des outils de visualisation 3D qui permettent aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les données de topographie de surface en temps réel. Le logiciel permet aux utilisateurs de créer des profils de surface détaillés, des vues transversales et des rendus 3D de la surface de l'échantillon, facilitant ainsi l'analyse et l'interprétation complètes des données de mesure. Les utilisateurs peuvent facilement exporter des données dans différents formats pour un traitement ultérieur ou une intégration avec d'autres outils logiciels. En plus de ses capacités d'imagerie et de mesure avancées, VK-X200 microscope est conçu pour la facilité d'utilisation et la polyvalence dans un environnement de laboratoire ou de production. La conception compacte et robuste du microscope garantit des performances fiables et une stabilité à long terme, tandis que l'interface logicielle intuitive simplifie le fonctionnement et l'analyse des données pour les utilisateurs de tous les niveaux d'expérience. Qu'il s'agisse d'inspections de routine, d'expériences de recherche ou de mesures de contrôle de la qualité, KEYENCE VK-X200 microscope offre une qualité d'imagerie, une précision de mesure et des capacités de visualisation de données inégalées pour un large éventail d'applications.
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