Occasion LASERTEC 1YM81-N #9107330 à vendre en France

Fabricant
LASERTEC
Modèle
1YM81-N
ID: 9107330
Laser microscope.
LASERTEC 1YM81-N est un microscope numérique pour la R&D industrielle et la production. Il fournit des images numériques d'échantillons et de composants avec une précision exceptionnelle et une distorsion minimale. Le corps du microscope et la caméra numérique sont conçus pour être légers et faciles à manœuvrer, permettant un accès rapide à différentes zones de l'échantillon. Le microscope offre un agrandissement exceptionnel de 3x à 200x, amélioré par un zoom numérique de 7x à 14x, et un zoom optique de 6x pour une imagerie plus détaillée. Les caractéristiques du microscope comprennent la mesure automatique de la taille, de la forme, de la position et des distorsions des composants, l'autofocus à vitesse variable et un champ angulaire extrêmement large. En outre, il fournit une détection de couleur, d'échelle de gris et de bord dans plusieurs formats d'image. 1YM81-N combine deux perspectives pour fournir des images de qualité : un objectif droit qui recueille le plus de lumière diffusée possible, ainsi qu'une caméra inclinée pour obtenir un contraste plus élevé. Cette combinaison aide efficacement à trouver des détails qui ne pouvaient pas être vus avec les microscopes optiques classiques. Le microscope dispose également d'un illuminateur LED intégré qui fournit des échantillons uniformément éclairés, tandis que sa source de chaleur intégrée assure qu'aucune condensation ne se forme sur l'échantillon lorsqu'il est observé. De plus, le microscope numérique fournit des roues filtrantes intégrées pour permettre des techniques d'imagerie complexes telles que la lumière polarisée, la fluorescence des impulsions et l'imagerie de la lumière ultraviolette. L'oculaire électronique permet également d'éliminer toute source de lumière externe pour créer une image claire. Enfin, LASERTEC 1YM81-N peut être utilisé pour mesurer des distances, des angles et des sections transversales, ainsi que pour mesurer des défauts sur des surfaces semi-conductrices.
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