Occasion LEICA / VISTEC INM 20 #293759374 à vendre en France

LEICA/VISTEC INM 20 est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM), conçu pour l'imagerie haute performance et l'analyse d'une large gamme d'échantillons avec une résolution et une précision exceptionnelles. Cet instrument de pointe combine la qualité optique reconnue de LEICA avec la technologie sophistiquée de VISTEC, ce qui en fait un outil puissant pour la recherche scientifique et les applications industrielles. Au cœur de LEICA INM 20 se trouve une source d'électrons à haute résolution, qui génère un faisceau d'électrons avec une luminosité et une stabilité exceptionnelles. Ce faisceau d'électrons est focalisé et balayé sur la surface de l'échantillon à l'aide de lentilles électromagnétiques de précision et de bobines de balayage, permettant une imagerie détaillée à l'échelle nanométrique. Le microscope est équipé de plusieurs détecteurs, y compris des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des détecteurs de rayons X dispersifs d'énergie, permettant une imagerie et une analyse complètes de la morphologie, de la composition et de la structure des échantillons. VISTEC INM 20 dispose d'un design de chambre robuste et polyvalent, avec beaucoup d'espace pour des échantillons de grande taille et de forme irrégulière. La chambre est équipée de ports multiples pour faciliter le chargement et le déchargement des échantillons, ainsi que pour l'intégration d'accessoires spécialisés tels que des systèmes de cryo-transfert, des systèmes d'injection de gaz et des porte-échantillons pour des expériences in situ. Le microscope comprend également des systèmes de vide avancés, assurant des conditions d'imagerie stables et sans contamination. L'un des points forts de l'INM 20 est son interface logicielle intuitive et conviviale, qui permet de contrôler efficacement les paramètres du microscope, l'acquisition d'images et l'analyse de données. Le logiciel offre une gamme complète d'outils d'imagerie et de traitement, y compris le piquage d'image, la reconstruction 3D, la cartographie élémentaire et l'analyse de profil de ligne. Les utilisateurs peuvent facilement personnaliser des paramètres d'imagerie tels que l'accélération de la tension, du courant de faisceau et de la vitesse de balayage pour optimiser les performances d'imagerie pour différents types d'échantillons et objectifs d'analyse. En plus de ses capacités d'imagerie, LEICA/VISTEC INM 20 est équipé de fonctionnalités analytiques avancées pour l'analyse élémentaire et chimique. Le détecteur de rayons X dispersif en énergie permet une analyse élémentaire qualitative et quantitative des échantillons, fournissant des informations précieuses sur la composition et la structure des échantillons. Le microscope supporte également des applications de lithographie par faisceau d'électrons, permettant de réaliser et de fabriquer des nanostructures précises sur des surfaces d'échantillons. Dans l'ensemble, LEICA INM 20 établit une nouvelle norme pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution dans le domaine de la microscopie. Ses performances exceptionnelles, sa conception polyvalente et son interface conviviale en font un outil idéal pour un large éventail de disciplines scientifiques, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie, la biologie et la géologie. Que ce soit dans des laboratoires universitaires, des installations industrielles de R-D ou des laboratoires de contrôle de la qualité, VISTEC INM 20 offre des capacités d'imagerie et une précision d'analyse inégalées pour repousser les limites de l'exploration scientifique.