Occasion NANOSURF Atomic Force Microscope (AFM) #293770952 à vendre en France

ID: 293770952
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NANOSURF Atomic Force Microscope (AFM) est un instrument d'imagerie à haute résolution qui utilise une sonde vive pour scanner la surface d'un échantillon, fournissant des informations topographiques détaillées à l'échelle d'un nanomètre. L'AFM est un outil puissant largement utilisé dans divers domaines tels que la science des matériaux, la nanotechnologie, la biologie et la biophysique pour étudier la morphologie de surface, les propriétés mécaniques et les interactions de surface à l'échelle nanométrique. Le principe de base de l'opération AFM implique l'utilisation d'une sonde pointue, typiquement un cantilever avec une pointe pointue à l'extrémité, qui interagit avec la surface de l'échantillon. Lorsque la sonde balaie la surface, elle subit des forces intermoléculaires telles que van der Waals, des forces électrostatiques et chimiques entre la pointe et l'échantillon. Ces interactions provoquent la déviation du cantilever, qui est détecté par un détecteur sensible, permettant la génération d'une carte topographique de la surface. NANOSURF AFM est équipé de fonctionnalités avancées qui améliorent ses capacités d'imagerie et ses performances. Une des caractéristiques clés de NANOSURF AFM est sa capacité d'imagerie haute résolution, qui permet aux chercheurs de visualiser les caractéristiques de surface avec une clarté et un détail exceptionnels à l'échelle nanométrique. L'AFM peut atteindre une résolution latérale jusqu'au sous-nanomètre, ce qui le rend idéal pour étudier de petites caractéristiques, telles que les nanoparticules, les nanofils et les biomolécules. En plus de l'imagerie haute résolution, NANOSURF AFM propose divers modes d'imagerie qui répondent à différents types d'échantillons et exigences de recherche. Les modes d'imagerie les plus couramment utilisés comprennent le mode de contact, le mode de prélèvement et le mode dynamique. En mode contact, la pointe de sonde maintient un contact constant avec la surface de l'échantillon, fournissant des informations topographiques à haute résolution. Le mode de prélèvement, par contre, consiste à faire osciller le cantilever près de sa fréquence de résonance, ce qui réduit les forces d'interaction bout-échantillon, minimise les dommages de l'échantillon et prolonge la longévité de la sonde. Le mode dynamique, également appelé mode sans contact, fonctionne à une amplitude d'oscillation plus élevée, permettant de mesurer les propriétés des échantillons telles que l'adhérence et la raideur. De plus, NANOSURF AFM est équipé de capacités de spectroscopie de force avancées, permettant aux chercheurs d'étudier les propriétés mécaniques de l'échantillon, telles que l'adhérence, la raideur et l'élasticité. En appliquant une force contrôlée à la surface de l'échantillon, les chercheurs peuvent mesurer la courbe force-distance, fournissant un aperçu des propriétés mécaniques du matériau à l'échelle nanométrique. NANOSURF AFM est également capable de remplir diverses autres fonctions, telles que la nanomanipulation, la nanolithographie et la caractérisation électrique. La nanomanipulation permet aux chercheurs de manipuler des nanoparticules ou des biomolécules individuelles à la surface avec une grande précision, permettant l'assemblage de nanostructures et l'étude des interactions moléculaires. La nanolithographie consiste à utiliser la sonde AFM pour modeler les surfaces à l'échelle nanométrique, offrant un outil polyvalent pour créer des nanostructures et des dispositifs. De plus, l'AFM peut être utilisé pour la caractérisation électrique en intégrant des sondes électriques pour mesurer la conductivité, la résistivité et la capacité de l'échantillon. En résumé, NANOSURF AFM est un instrument polyvalent et puissant pour l'imagerie haute résolution et la caractérisation nanométrique des matériaux et des échantillons biologiques. Avec ses caractéristiques avancées, ses modes d'imagerie et ses capacités de spectroscopie de force et de nanomanipulation, l'AFM est un outil indispensable pour les chercheurs dans divers domaines cherchant à explorer et à comprendre le nanoworld.
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