Occasion NANOSURF Flex #293603647 à vendre en France
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ID: 293603647
Atomic Force Microscope (AFM)
Maximum scan range: 100 µm x 100 µm
Resolution in XY: 1.525 nm
Maximum Z range: 10 µm
Resolution in Z: 0.152 nm
Acoustic enclosure
Operating mode:
Static force
Lateral force
Dynamic force
Phase contrast
Tips:
150A1-G Sensor tap
Tip radius: <10 nm
Half cone angle:
20°-25° Along cantilever axis
25°-30° From side
10° At the apex.
NANOSURF Flex est un microscope exceptionnellement polyvalent conçu pour un large éventail de besoins d'imagerie et de caractérisation de surface. Il est conçu pour fournir une excellente résolution et un contraste d'image, permettant aux scientifiques d'imiter des échantillons complexes avec facilité et précision. Le cœur du microscope est composé d'une unité de microscope contrôlée par ordinateur avec un étage motorisé intégré et une variété de composants optionnels. Une gamme de course intégrée de nanopositionnement No-Go et une tête mécanique de balayage de surface avec une précision de niveau nanométrique rendent Flex très sensible pour les surfaces d'imagerie avec des caractéristiques topographiques qui s'étendent de quelques nanomètres à plusieurs millimètres de taille. NANOSURF Flex fournit également une variété de fonctions intégrées pour un fonctionnement pratique, y compris un joystick ergonomique pour la navigation, un système de contrôle et de rétroaction pour la commande de mouvement, et un mécanisme de focalisation motorisé pour le réglage fin de la focale. Avec le système, on peut acquérir et analyser des images de n'importe quel microscope électronique à balayage ou autre équipement qui peut être interfacé avec Flex. La flexibilité du système permet également aux utilisateurs de mener un large éventail d'expériences, allant d'une simple analyse de surface descendante à une analyse quantitative de surface plus approfondie. Ses capacités optiques offrent un champ lumineux, un champ sombre, un contraste d'interférence différentiel (DIC) et une imagerie lumineuse polarisée pour rendre le détail le plus fin des échantillons et mesurer les dimensions avec une précision de niveau micron. NANOSURF Flex est également équipé d'outils intégrés pour mesurer les caractéristiques de surface, y compris la rugosité et l'ondulation. Ses fonctions de cartographie automatisée permettent de mesurer ces paramètres avec une grande précision, ce qui élimine la nécessité de mesurer manuellement les caractéristiques. Ce qui distingue Flex des configurations similaires, c'est sa polyvalence et sa précision. Associé à ses contrôles ergonomiques, il permet aux scientifiques d'imiter facilement des échantillons complexes avec une précision exceptionnelle, permettant le développement de modèles détaillés des propriétés de surface.
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