Occasion NT-MDT NTEGRA #293799997 à vendre en France

NT-MDT NTEGRA est un équipement de pointe de microscope à force atomique (AFM) qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution pour un large éventail d'applications de recherche dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux et de la biologie. Ce microscope de pointe intègre diverses techniques de microscopie par sonde à balayage, telles que l'AFM, la microscopie par tunnel à balayage (STM) et la spectroscopie Raman confocale, offrant aux chercheurs une plate-forme polyvalente pour étudier les propriétés de surface et les interactions à l'échelle nanométrique. Le système NTEGRA comprend un microscope à balayage stable et de précision combiné à un logiciel de contrôle avancé, permettant aux utilisateurs d'acquérir des informations topographiques et chimiques avec une résolution sous-nanométrique. L'instrument dispose d'un scanner piézoélectrique qui positionne précisément l'extrémité de la sonde sur la surface de l'échantillon, permettant l'acquisition d'images à haute résolution de caractéristiques de surface, telles que des nanoparticules, des films minces et des échantillons biologiques. L'unité comprend également des boucles de rétroaction sophistiquées qui maintiennent un contrôle précis des forces d'interaction sonde-échantillon, assurant une imagerie précise et sans artefact. L'un des principaux atouts du microscope NT-MDT NTEGRA est sa capacité à effectuer une imagerie et une analyse multimodales. En intégrant différentes techniques de microscopie par sonde à balayage, les utilisateurs peuvent acquérir des informations complémentaires sur les propriétés de l'échantillon, telles que la rugosité de surface, les propriétés mécaniques, la conductivité électrique et la composition chimique. Par exemple, le mode AFM peut être utilisé pour obtenir des informations topographiques, tandis que le mode STM permet d'étudier les propriétés électroniques à l'échelle atomique. De plus, la spectroscopie Raman confocale peut être utilisée pour identifier les composants chimiques et cartographier leur distribution spatiale à la surface de l'échantillon. La machine NTEGRA offre une gamme de modes d'imagerie et de capacités pour répondre à diverses exigences de recherche. En plus du mode AFM standard de contact et de prélèvement, le microscope supporte des modes d'imagerie avancés tels que l'AFM sans contact, la microscopie à force dynamique et la microscopie à force de la sonde Kelvin, permettant aux chercheurs d'étudier un large éventail de propriétés d'échantillons avec une sensibilité et une précision élevées. L'outil est également équipé de capacités de contrôle environnemental, permettant l'imagerie dans des conditions de température, d'humidité et d'atmosphère gazeuse contrôlées. En outre, le microscope NT-MDT NTEGRA comprend des outils avancés d'analyse et de visualisation des données pour aider les utilisateurs à extraire des informations précieuses des images et spectres acquis. Le logiciel intégré permet le traitement d'images, l'analyse de fonctionnalités et la visualisation 3D de structures de surface, facilitant l'interprétation de phénomènes nanométriques complexes. Les utilisateurs peuvent également effectuer des mesures quantitatives de la rugosité de surface, des forces d'adhérence et des propriétés des matériaux en utilisant les outils d'analyse intégrés. Dans l'ensemble, le microscope NTEGRA est un outil puissant pour la recherche à l'échelle nanométrique, offrant une imagerie haute résolution, des capacités d'analyse polyvalentes et des modes d'imagerie avancés pour soutenir un large éventail d'études scientifiques. Grâce à ses capacités multimodales, à son contrôle précis et à ses outils avancés d'analyse des données, le microscope fournit aux chercheurs de précieux renseignements sur le monde nanométrique, ce qui permet des percées dans la recherche fondamentale, la mise au point de matériaux et les études biologiques.