Occasion PARK SYSTEMS NX 10 #293667516 à vendre en France

PARK SYSTEMS NX 10 est un microscope à force atomique (AFM) conçu pour l'imagerie de surface haute résolution afin de fournir les données les plus précises et fiables au niveau nanométrique. Cette AFM combine l'imagerie topographique puissante et l'imagerie dynamique sans contact pour obtenir des performances sans précédent en imagerie nano-échelle avec sa capacité de mesure structurale et mécanique supérieure. NX 10 dispose d'un système Ethernet intégré qui permet aux utilisateurs de contrôler le système à distance via n'importe quel navigateur Internet sur n'importe quel ordinateur. Cela permet également le contrôle et l'échange de données entre PARK SYSTEMS NX 10 et les logiciels associés tels que PARK SCAN-CONTROL et PARK IMAGE SOFTWARE. NX 10 est capable de créer des images ultra haute résolution jusqu'à la résolution de 0,07 nanomètres. Ceci est rendu possible par sa technologie « Triple Laser Beam » qui combine trois faisceaux laser sophistiqués qui sont utilisés pour le plan d'image, la focalisation et la poursuite. De plus, la conception optique dispose d'un « axe Z motorisé » pour le réglage z de l'échantillon et d'un « scanner double pointe amélioré » pour une vitesse d'imagerie plus rapide. PARK SYSTEMS NX 10 a également une conception de scène optimisée pour une précision inégalée et un étalonnage simple. Cela élimine la nécessité de « niveler l'étape », une procédure normalement requise pour l'imagerie AFM. En outre, l'étage dispose de plusieurs fonctionnalités d'automatisation, dont un mode 'Auto-Deflect' qui ajuste la force de l'échantillon de pointe, un mode 'Zero-Drift' qui empêche la dérive Z-Axis dans le temps due à la dérive de la température, et un mode 'Smart Scan' qui analyse en synchronisation avec la vitesse de scan et les paramètres de mesure. NX 10 comprend également une gamme d'options telles que le contrôle des vibrations, les porte-échantillons et une variété de modes d'imagerie qui fonctionnent tous pour améliorer l'exactitude des données collectées. En outre, PARK SYSTEMS NX 10 dispose d'une fonction d'imagerie en mode immédiat qui lui permet de produire une image presque instantanément avec une seule commande, améliorant ainsi l'efficacité du flux de travail. Finalement, NX 10 AFM combine technologie d'imagerie avancée, précision améliorée, automatisation et contrôles logiciels pour offrir aux utilisateurs la solution la plus complète pour l'imagerie nanométrique disponible aujourd'hui.