Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO / HITACHI L-Trace II #293757979 à vendre en France
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ID: 293757979
Style Vintage: 2012
Atomic Force Microscope (AFM)
Sample stage, 6"
Scanning method D/A converter control
Maximum voltage: ± 200 V
Maximum scan rotation : ±180°
Maximum simultaneous measurement: 4
Power: 100 AC, 1.5 A, 50/60 Hz
2012 vintage.
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