Occasion SONOSCAN C-SAM D-6000 #9223694 à vendre en France

SONOSCAN C-SAM D-6000 est un microscope acoustique semi-conducteur avancé conçu pour une gamme inégalée d'applications d'imagerie et d'analyse acoustiques. Cet équipement offre la dernière technologie d'imagerie acoustique, avec la plus haute résolution, et comprend plusieurs fonctionnalités pour fournir les plus hautes performances du système et les données d'imagerie acoustique les plus fines. SONOSCAN C-SAM D6000 utilise des techniques d'écho-impulsions laser pour générer des images acoustiques de matériaux en couches minces sur les surfaces des plaquettes semi-conductrices. Les impulsions ultrasonores générées par la source d'excitation laser sont focalisées sur les faces avant et arrière du matériau et les signaux acoustiques qui en résultent sont acquis et traités. Ce balayage produit une vue en coupe du matériau. C-SAM D-6000 offre une résolution exceptionnelle, ce qui en fait l'outil idéal pour l'inspection et l'analyse des matériaux à l'échelle du nanomètre. Il est également capable de surveiller les micro-modifications à l'intérieur du matériau, telles que les défauts de sous-surface, les composants micro-électriques et les caractéristiques enterrées. Ses fonctionnalités logicielles et matérielles avancées le rendent également idéal pour l'évaluation d'échantillons de lignes de production à haut volume. Son champ de vision peut être ajusté en fonction de la taille de l'échantillon, permettant une imagerie très précise. C-SAM D6000 est bien adapté à l'analyse de composants IC, de structures MEMS, de structures 3D et de tests non destructifs sur des structures lithographiques à haute résolution. De plus, sa mise en oeuvre spécialisée de techniques d'imagerie transversale peut être utilisée pour inspecter les matériaux fabriqués contre des dessins de conception préexistants afin de déceler toute déviation par rapport à la conception. SONOSCAN C-SAM D-6000 offre un ensemble complet d'outils logiciels, tels que sa fonction Auto Focus, qui assure une bonne mise au point en temps réel sans nécessiter de réglage manuel. Cette unité est également optimisée pour l'imagerie acoustique pulsée et CW, offrant plus de flexibilité pour diverses applications. En plus de ses capacités d'imagerie, SONOSCAN C-SAM D6000 offre une gamme de fonctions d'analyse. Ses caractéristiques avancées de rejet de signal/bruit et de pré-scanner peuvent mesurer avec précision des caractéristiques telles que l'épaisseur de la couche et la forme du profil même en présence de la contamination du signal. Cette machine comprend également un algorithme de criblage optimal pour identifier et caractériser les caractéristiques avec un SNR de très faible amplitude ou de fond élevé. C-SAM D-6000 est un outil très polyvalent conçu pour répondre aux exigences d'un large éventail d'applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Sa précision, sa fiabilité et ses caractéristiques avancées en font un outil précieux pour l'analyse de tout type de matériau.