Occasion SONOSCAN C-SAM Series D-9000 #9162832 à vendre en France

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ID: 9162832
Style Vintage: 2003
Acoustic microscope Missing: Lenses PC Non-functional 2003 vintage.
SONOSCAN C-SAM Series D-9000 est un équipement de microscopie acoustique de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse de matériaux à micro-échelle non destructive. Utilisant des ondes ultrasonores transmises et réfléchies à partir de matériaux échantillons, le C-SAM crée des images tridimensionnelles à haute résolution qui révèlent des détails bien au-delà des limites de la microscopie optique traditionnelle. Le microscope C-SAM Series D-9000 comprend plusieurs composants clés, dont un système de détection acoustique à large champ, un scanner électromécanique, une unité de traitement numérique du signal (DSP) et une unité d'affichage visuel, qui facilitent la collecte, le traitement et la visualisation des données d'imagerie ultrasonore. Son unité de détection à large champ utilise des transducteurs piézoélectriques qui convertissent l'énergie acoustique en signaux électriques, permettant l'acquisition d'informations à partir de volumes importants de matière. Le scanner électromécanique utilise une variété de techniques combinées de mouvement x-y-z pour sélectionner précisément les points où les transducteurs sont placés. L'unité DSP est utilisée pour traiter les données acoustiques entrantes provenant de différents endroits acoustiques, ainsi que pour mesurer les rapports signal à bruit et d'autres paramètres tels que la résolution d'image. Il contient un processeur de signal puissant, un synthétiseur de fréquence, une machine d'acquisition de données 3D, et une sélection de modes d'imagerie. Le microscope SONOSCAN C-SAM Series D-9000 peut être utilisé pour une grande variété d'applications d'inspection, y compris l'imagerie haute résolution pour des applications dans l'essai de matériaux, l'analyse microstructurale, l'analyse de défaillance et l'ingénierie inverse. Ses capacités d'imagerie acoustique sont encore améliorées par la capacité de visualiser les données de l'échantillon en mode coupe transversale, permettant l'analyse des données de volume. La technologie avancée d'imagerie du C-SAM permet d'assurer la précision et la fiabilité de l'inspection des caractéristiques microstructurales en fournissant des informations détaillées sur la composition et la structure des matériaux. Il offre également un large éventail de modes d'imagerie, allant de l'imagerie au microscope au balayage macro-visuel, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs d'étudier et d'analyser divers aspects des propriétés des matériaux.
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