Occasion SONOSCAN C-SAM Series D-9500 #293598462 à vendre en France

SONOSCAN C-SAM Series D-9500 est un microscope à balayage laser utilisé pour l'analyse et la mesure non destructives d'échantillons hiérarchisés et d'échantillons non hiérarchisés. Développé par SONOSCAN, spécialiste des instruments de détection et d'analyse d'erreurs, C-SAM Series D-9500 utilise un faisceau laser pour mesurer chaque surface d'échantillon. Le faisceau laser est réfléchi hors de la surface de l'échantillon et balaye toute la surface de l'échantillon. Le faisceau laser réfléchi est ensuite analysé pour fournir une section transversale détaillée de la surface de l'échantillon, renvoyant une abondance de données. Le microscope laser à balayage de série C-SAM comprend une optique et des détecteurs avancés spécialisés pour capturer la topographie de surface détaillée. Ces optiques à haute résolution ont une résolution latérale de 2nm et une résolution verticale de 0.5nm. La série C-SAM est équipée d'un processeur de signal numérique et d'un réseau CCD de pointe pour faciliter un système d'imagerie numérique intégré pour des fonctionnalités avancées telles qu'une visualisation de surface tridimensionnelle, une analyse de surface et une analyse d'image avancée, ainsi qu'une gamme d'acquisitions d'images et de sondes. La série C-SAM dispose également de capacités avancées de balayage laser qui permettent des niveaux de sensibilité et de précision extrêmement élevés. Le système de balayage laser peut cartographier rapidement et efficacement toute la surface d'un échantillon à haute résolution de 0,5 nanomètres. Ceci permet une analyse plus détaillée de la surface de l'échantillon, permettant une caractérisation pixel par pixel détaillée de caractéristiques telles que la topographie de l'échelle nanométrique, les cavités, les saillies et la rugosité de surface. En outre, le microscope à balayage laser de série C-SAM est équipé d'une gamme complète d'applications, allant de la mesure dimensionnelle de base à l'analyse complète du profil. Cela comprend un large éventail de processus de mesure, l'analyse de données d'image et l'analyse profilométrique ainsi que des essais et des analyses de matériaux nanométriques sophistiqués. Cela permet de mesurer facilement les profils des échantillons, ainsi que des outils avancés pour l'analyse quantitative d'une variété de matériaux. SONOSCAN C-SAM Series D-9500 est également adapté à une gamme de types d'échantillons, allant d'une variété de surfaces telles que métaux, céramiques et composites, à des échantillons géologiques et bio-échantillons. En résumé, C-SAM Series D-9500 est un microscope à balayage laser avancé qui est capable d'analyser une gamme de types d'échantillons. Il dispose d'une optique haute résolution et de la technologie de balayage laser, ainsi que d'une gamme complète d'applications, permettant une gamme de mesures et d'analyses. Cela fait de SONOSCAN C-SAM Series D-9500 un instrument idéal pour les structures hiérarchiques et non hiérarchiques, fournissant des résultats détaillés et précis.