Occasion VEECO / BRUKER DiInnova #9398521 à vendre en France

Fabricant
VEECO / BRUKER
Modèle
DiInnova
ID: 9398521
Atomic Force Microscope (AFM) Sample holder piezo non-functional.
Le microscope VEECO/BRUKER DiInnova est un microscope électronique à balayage à haute performance (FE-SEM). Cet instrument de pointe est conçu pour une imagerie à résolution maximale, un fonctionnement automatisé facile et des dommages d'échantillons faibles. VEECO DiInnova utilise un équipement innovant de détection multiplicateur d'électrons de canal qui est capable de produire des résultats constants de haute qualité, même avec des échantillons difficiles. Il met également en œuvre un canon magnétron propriétaire qui permet d'accélérer la disponibilité des ressources et de réduire le coût de possession pour l'utilisateur. BRUKER DiInnova fournit aux utilisateurs une résolution allant jusqu'à 1 nm, ce qui est plus que suffisant pour résoudre les détails les plus fins de tout échantillon. De plus, la faible température de fonctionnement de l'industrie garantit que les échantillons ne sont pas endommagés en cours de fonctionnement. Cela fait de DiInnova un outil idéal pour des applications telles que la caractérisation en couches minces, l'analyse des défaillances et l'imagerie microstructurale. Le microscope est également équipé d'auto-focalisation et d'une grande distance de travail pour garantir la plus haute qualité d'image. L'optique électronique utilisée au sein de VEECO/BRUKER DiInnova garantit des performances et une durabilité supérieures aux systèmes optiques traditionnels, ce qui améliore la fidélité de l'image. De plus, l'instrument offre une vaste gamme de fonctionnalités telles que la navigation automatisée des échantillons, les modes d'imagerie avancés et les logiciels dédiés à la rationalisation de l'analyse des échantillons. Le système de navigation automatisé permet à l'utilisateur d'étalonner facilement le champ de vision et de traverser de grands volumes rapidement et avec précision. L'unité d'imagerie intégrée supporte également plusieurs modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'imagerie électronique décélérée (DEI) et l'imagerie par rayons X à dispersion d'énergie (EDXI). Ces modes d'imagerie peuvent être utilisés en liaison les uns avec les autres pour obtenir un détail inédit à partir d'un seul échantillon. Enfin, des logiciels dédiés ont été conçus pour optimiser la navigation d'échantillons et la manipulation d'images dans un environnement convivial et intuitif, rendant VEECO DiInnova adapté à une gamme de besoins d'imagerie et d'analyse. Au total, BRUKER DiInnova est un microscope électronique à balayage à haute performance, conçu pour faciliter l'analyse rapide et facile des échantillons tout en fournissant des résultats de pointe avec un minimum de dommages aux échantillons. Avec sa vaste gamme de fonctionnalités, son logiciel dédié et sa machine d'imagerie intégrée, DiInnova est un outil puissant et précieux pour une gamme d'applications.
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