Occasion VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9302575 à vendre en France

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9302575
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension 3100 est un équipement de microscope à balayage multicomposant (SPM) développé pour fournir une caractérisation topographique, mécanique et électrique à haute résolution des surfaces d'échantillons. Il dispose d'une plate-forme de balayage exceptionnellement stable avec un système de rétroaction active et est largement utilisé dans toute une gamme d'applications de recherche et industrielles, y compris la science des matériaux, les nanosciences, les dispositifs semi-conducteurs et les MEMS, ainsi que pour la nanométrologie et la tribologie. VEECO Dimension 3100 comprend une gamme de composants matériels conçus pour mesurer et analyser des échantillons. Les principaux composants sont la tête de balayage, l'étage, l'affichage et le contrôleur. La tête de balayage est un scanner XYZ haute résolution et haute vitesse monté sur un positionneur de précision. Il peut représenter et déplacer des surfaces d'échantillons à des échelles nanométriques avec des résolutions inférieures à 0,3 nm. L'étage est une plate-forme motorisée qui déplace l'échantillon par rapport au scanner XYZ lorsque la tête de balayage effectue des mesures. L'écran est une interface utilisateur graphique puissante qui affiche la surface de l'échantillon jusqu'à 50 nm/pixel résolution, dans une variété de modes - y compris le temps réel et les images qualitatives. L'écran permet également aux utilisateurs de contrôler les paramètres de balayage, tels que la vitesse de balayage, le gain d'affichage, la taille et la vitesse de la fenêtre de balayage, et différentes caractéristiques (telles que la surface, la rugosité et la continuité). DEKTAK Dimension 3100 dispose également de composants mécaniques et électriques supplémentaires, tels que des capteurs de force et électriques, qui permettent une caractérisation mécanique et électrique non destructive des échantillons. Les capteurs de force peuvent mesurer la dureté, la raideur et les propriétés de frottement des échantillons, et les capteurs électriques mesurent la résistivité de surface, le transfert de données et d'autres propriétés. Enfin, le contrôleur est une unité à base de PC interfaçant avec les composants matériels de Dimension 3100. Il comprend plusieurs algorithmes de contrôle pré-programmés et est capable d'un balayage complexe multi-paramètres. Le contrôleur permet également l'analyse et l'affichage en temps réel des résultats de mesure de la machine. Dans l'ensemble, VEECO/DEKTAK Dimension 3100 offre une combinaison exceptionnelle de précision, de précision et de polyvalence pour une large gamme de tâches d'imagerie et de caractérisation des matériaux. Les composants matériels et logiciels de l'outil travaillent ensemble pour fournir des résultats de qualité supérieure avec facilité d'utilisation et fiabilité.
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