Occasion VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9285850 à vendre en France

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
ID: 9285850
Taille de la plaquette: 12"
Atomic Force Microscope (AFM), 12".
VEECO/DEKTAK3 VEECO/DEKTAK Dimension X3D est un outil de mesure/profilométrie 3D de pointe conçu pour la métrologie nanométrique et la caractérisation de divers matériaux. Il est construit sur les dernières technologies optiques, mécaniques et d'automatisation fournissant des capacités d'acquisition de données précises et rentables. Le X3D dispose d'un design optique unique, comprenant un étage de piézo XY compact, une caméra CCD haute résolution, des capteurs de profondeur laser, et une optique couleur avancée. La plateforme logicielle intégrée offre une interface utilisateur intuitive et de puissants outils d'analyse de données, y compris la visualisation en temps réel des données de surface 3D, l'analyse statistique et la génération automatisée de rapports. Le X3D utilise la technologie de profilométrie optique pour mesurer avec précision la forme de surface et la rugosité des objets dans les trois dimensions. L'outil utilise une ligne laser projetée sur la surface de l'échantillon et une caméra complémentaire pour capturer les contours et les variations de hauteur de l'échantillon avec une précision jusqu'à l'échelle du nanomètre. Les sources laser utilisées dans le X3D sont réglables pour fournir des capacités d'acquisition haute résolution et rapide, et le système utilise plusieurs lasers pour améliorer la stabilité et la précision. Le X3D est capable de mesurer des structures micro et nanométriques, capturant avec précision les caractéristiques angulaires, courbes et pliantes. Le X3D fournit un alignement et un contrôle robustes et précis, avec sa plate-forme motorisée sous-IMG, permettant des mesures de surface précises avec vitesse et répétabilité. L'optique améliorée permet de meilleures capacités d'acquisition de données et une meilleure résolution, et son système de caméra d'imagerie haute vitesse fournit un retour en temps réel et une capture d'image rapide. Les données 3D générées par l'instrument sont compatibles avec une variété d'outils d'analyse de données, y compris les logiciels d'imagerie CAO 3D et d'analyse de surface. VEECO Dimension X3D est un outil idéal pour caractériser un large éventail de matériaux, des matériaux semi-conducteurs et bio aux nouveaux polymères, céramiques et composites. Il offre une combinaison exceptionnelle de précision, de résolution, de vitesse et de dynamique, ce qui en fait un outil de mesure et de caractérisation inestimable pour des applications industrielles et de recherche. Le X3D s'est avéré être une solution de métrologie puissante et fiable pour obtenir des informations de surface à l'échelle nanométrique avec une précision et une précision inégalées.
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