Occasion VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9298810 à vendre en France

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
ID: 9298810
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2004
Atomic Force Microscope (AFM), 12" 2004 vintage.
Le microscope VEECO/DEKTAK Dimension X3D est un appareil de microscopie à balayage haute résolution (SPM) conçu pour mesurer la topographie de surface à l'échelle microscopique. Il est utilisé pour mesurer et analyser les profils de surface avec une résolution nanométrique. VEECO Dimension X3D se compose de quatre composantes essentielles : la tête SPM, qui abrite le mécanisme de création et de détection de l'interaction bout-échantillon ; une unité de commande et de commande ; un microscope, qui comprend l'imagerie et les composants optiques ; et un système informatique, utilisé pour le contrôle et l'analyse des données. La tête SPM peut scanner des échantillons dans n'importe quelle direction en trois dimensions avec des vitesses allant jusqu'à 2000 nm/sec. Un mandrin sous vide maintient l'échantillon en place et des étages XY ou XYZ peuvent être utilisés pour un positionnement précis de l'échantillon au niveau du micron et du nanomètre. En utilisant les sondes et les pointes de cantilever correctes, DEKTAK Dimension X3D est capable d'effectuer une variété de modes d'imagerie de surface, tels que le mode contact et le mode sans contact. En mode contact (aussi appelé « mode force »), une force d'interaction est générée par une pointe pointue (généralement une sonde AFM en silicium) qui est balayée sur la surface de l'échantillon. Mode d'imagerie sans contact (aussi appelé « mode de tapotage ») est réalisé par le mouvement oscillatoire (tapotage) de la pointe de cantilever sur la surface de l'échantillon, créant une interaction de force faible non destructive. Le microscope Dimension X3D est complet avec un logiciel de haute performance pour l'acquisition et l'analyse de données. Il dispose de capacités de détection de bord et d'imagerie de surface qui permettent aux utilisateurs de mesurer avec précision les caractéristiques de surface. De plus, l'unité a la capacité de mesurer les courbes de mouvement et de force du mode contact/sans contact. La machine VEECO/DEKTAK Dimension X3D est un temps de travail uptime, permettant des temps d'imagerie longs et ininterrompus sans surchauffe. Il est conçu pour être intuitif à utiliser et peut être rapidement mis en action avec quelques étapes rapides. Dans l'ensemble, VEECO Dimension X3D est une excellente option pour les chercheurs qui ont besoin d'un outil SPM fiable et précis pour mesurer la topographie de surface à l'échelle du nanomètre. Avec sa relative facilité d'utilisation et ses excellentes capacités d'imagerie, c'est un choix idéal pour toute application nécessitant l'observation de matériaux à l'échelle nanométrique.
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