Occasion VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9390606 à vendre en France

VEECO/DEKTAK Dimension X3D, est un microscope à balayage vertical haute performance conçu pour une large gamme d'applications de métrologie et de microscopie. Le X3D utilise un équipement de vision intégré qui utilise un capteur d'image 2048 x 2048 haute résolution pour la visualisation descendante de l'échantillon. Le X3D est l'un des microscopes à balayage vertical les plus précis et les plus reproductibles disponibles, avec une résolution possible de 1 nm le long de l'axe z, et jusqu'à 0,1 um pour les mesures d'axes x et y. Le X3D fournit une excellente répétabilité pour les données mesurées. Le X3D comprend une variété de caractéristiques qui garantissent des mesures répétables et de haute précision. Le X3D utilise un système d'éclairage à base de raster, qui fournit une intensité égale à travers la zone de l'échantillon. Cela permet un éclairage uniforme, ce qui améliore la précision lors du balayage et de la mesure de la hauteur. Le X3D comprend également une puissante unité de traitement d'image avec jusqu'à 32x grossissement, qui permet l'imagerie détaillée d'échantillons. La machine est capable d'imagerie de champ lumineux, de champ sombre et de fluorescence, ainsi que de calculs automatisés de mesure à la volée. Le X3D comprend une variété de modes opérationnels, y compris l'analyse, la carte, l'inclinaison et la hauteur. Ils permettent à l'utilisateur de générer des cartes topographiques, d'étalonner et de vérifier des mesures, et de réaliser des applications de métrologie avancées. Le mode scan permet à l'utilisateur de générer des scans 2D, tandis que le mode map génère automatiquement des cartes topographiques 3D haute résolution avec une précision de position allant jusqu'à 0,15 microns. Le mode inclinaison effectue des mesures topographiques de surface en 3D projectives sur des échantillons avec des angles allant jusqu'à 70 °, permettant aux utilisateurs d'analyser la rugosité de surface et les profils non planaires. Le mode hauteur mesure la hauteur absolue avec une précision de position allant jusqu'à 0,3 microns. Une des fonctionnalités les plus populaires du X3D est le logiciel Metrology Package, qui automatise l'ensemble du processus de mesure de l'étalonnage à l'acquisition de données. Cette fonction réduit l'erreur critique de l'opérateur et augmente la précision globale et le débit des mesures. Le X3D dispose également d'une grande surface de scène, avec des disques XY motorisés en option offrant des gammes allant jusqu'à 150 mm. Cette fonctionnalité offre un vaste espace de travail pour toute une gamme d'applications, de la recherche matérielle à l'ingénierie des appareils. Le X3D est le microscope idéal pour les chercheurs et les ingénieurs à la recherche d'un outil de mesure fiable et reproductible. Ses puissantes capacités d'imagerie et ses fonctionnalités de mesure le rendent bien adapté à une variété d'applications. De la numérisation sans contact de routine à la mesure ultra-précise de haute résolution, le X3D est l'outil parfait pour faire le travail.