Occasion VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9396852 à vendre en France

VEECO/DEKTAK Dimension X3D est un microscope optique avancé conçu pour des mesures précises et détaillées de topographie de surface 3D. Il est capable de produire une cartographie de surface à l'échelle nanométrique avec une empreinte cinq fois plus petite que les profilomètres traditionnels sans contact/sans contact. Le X3D utilise une technique d'interféromètre à balayage vertical (ISV) sans contact et non destructif pour les mesures 3D. L'équipement fonctionne en projetant un faisceau laser infrarouge sur la surface de manière bi-passante et capte l'interférence entre l'échantillon et le faisceau de référence, qui sert à calculer le profil global de l'échantillon. Le X3D dispose d'un système amélioré basé sur l'interféromètre avec de meilleures capacités d'acquisition et d'analyse des données. Il utilise plusieurs étages de portage d'air pour la correction d'inclinaison de pointe haute performance pour le balayage sur des surfaces courbes. Cela permet de mesurer avec précision la surface des échantillons plats et courbes. La tête de mesure au microscope du X3D est très tolérante aux vibrations, offre de très faibles niveaux de bruit et offre d'excellentes capacités de manipulation de puissance. Il dispose également d'une structure exclusive d'amortissement des vibrations pour la stabilisation de la tête de balayage avec rétroaction physique sur la tête de balayage. L'unité dispose d'une machine de compensation thermique intégrée pour contrôler la dérive induite par la température dans les mesures. Cela garantit une répartition uniforme des données et une représentation précise sur la surface. Le X3D dispose également d'un logiciel puissant et sophistiqué pour contrôler le microscope et analyser les images capturées. Le logiciel peut fournir un certain nombre d'applications, y compris la rugosité de surface et la caractérisation du contour, l'analyse de texture, la cartographie des profils 3D, et les mesures de crête/vallée. Le X3D est une solution idéale pour la métrologie de surface de haute précision et l'inspection de micro-surface. Il a été conçu pour les scientifiques industriels et universitaires et fournit des résultats fiables avec un haut degré de précision. Il offre une solution abordable et facile à utiliser pour la cartographie détaillée en 3D des surfaces.