Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS D3100V #9292569 à vendre en France

ID: 9292569
Style Vintage: 1999
Atomic Force Microscope (AFM) 1999 vintage.
La série VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V Scanning Probe Microscope (SPM) est un système d'imagerie et de mesure de pointe conçu pour fournir des mesures améliorées en topographie et en géométrie. Cette série permet de caractériser les matériaux, les surfaces et les interfaces jusqu'à une résolution nanométrique. Il dispose d'un mode de contact sensible qui permet de prendre des mesures avec une force stable pour une imagerie précise. La série VEECO D3100V permet d'étudier la topographie et la géométrie grâce à l'imagerie 3D haute résolution, à des distances de travail variables et à une variété de sondes interchangeables, y compris la pointe standard affûtée et divers pointes de silicium. La série DIGITAL INSTRUMENTS D3100V comprend un microscope optique de bord, un mécanisme de focalisation automatique et un système laser intégré avec un laser HeNe ou le laser à argon de 532nm. Cette série est équipée d'un étage piézo permettant une résolution angulaire plus élevée et une interférence laser plus faible. D3100V série comprend un logiciel intuitif qui envoie des commandes au SPM pour effectuer un échantillonnage vertical uniforme avec un stylet de détection de force. Il offre une variété de fonctionnalités avancées telles qu'un AutoView qui synchronise automatiquement le miroir d'entraînement, piézo-échelle, zoom optique et foyer optique pour maintenir l'alignement entre toutes les parties du train optique. De plus, il comprend un stylet virtuel qui permet à l'utilisateur de capturer des images topographiques avec une précision répétable. D'autres caractéristiques comprennent un générateur programmable de forme d'onde permettant une manipulation dynamique de la pointe. Cela permet de mesurer avec précision les surfaces et d'augmenter la flexibilité de ses capacités de mesure. La fonction d'alignement automatique du champ de balayage permet de positionner automatiquement l'échantillon et le pointeur, ce qui permet une imagerie précise. De plus, grâce à l'affichage coloré 3D, les utilisateurs peuvent visualiser des structures et des caractéristiques de surface difficiles à mesurer. Dans l'ensemble, la série VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V Scanning Probe Microscope offre des capacités d'imagerie améliorées avec des fonctionnalités telles que l'auto-focus, des distances de travail variables, des sondes interchangeables, des logiciels intuitifs et des formes d'onde programmables qui aident à capturer des mesures précises et répétables. Il est conçu pour mesurer avec précision le matériau, les surfaces et les interfaces jusqu'à une résolution nanométrique.
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