Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3000 #9300087 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3000 est un microscope électronique à balayage (SEM) de classe mondiale conçu pour la recherche dans les domaines de la caractérisation des matériaux et de la nanotechnologie. Il offre une technologie de pointe pour l'imagerie avancée et les mesures les plus précises dans sa classe. VEECO Dimension 3000 dispose d'une conception optique améliorée, qui comprend un mode analytique intégré pour les images à haute résolution. Il dispose également d'un équipement de capteur de pointe et du dernier système d'essai sous vide pour contrôler la qualité de l'état sous vide. Le SEM est équipé d'un canon à électrons de grande puissance et de plusieurs étages d'échantillonnage pour une plus grande polyvalence. Il est également capable d'un fonctionnement à pression variable pour l'étude des liquides et des matières biologiques. La colonne électronique-optique intégrée comporte une unité brevetée d'essai sous vide à lentille liquide pour une performance maximale du détecteur d'électrons. L'unique lecteur de focalisation Peltier, qui est capable de fournir une précision de sous-micron, est également inclus. La technologie brevetée Bias Network offre un contraste d'image élevé avec une distorsion minimale du faisceau. De plus, DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3000 offre des temps d'acquisition d'images plus longs et des mesures précises de petites fonctionnalités sur une large gamme de grossissements. La machine de conception et de contrôle efficace de Dimension 3000 permet des réglages définis par l'utilisateur et une plus grande flexibilité. L'outil de contrôle comprend des paramètres de faisceau d'électrons variables, des plages de courant de faisceau, et des paramètres d'image et de couche. Les utilisateurs peuvent personnaliser l'équilibre des couleurs et le contraste d'une manière qui convient le mieux à leur application. L'actif de contrôle comprend également une cartographie 3D de la surface et du spécimen. Le SEM est bien adapté pour une utilisation dans la recherche et les industries qui nécessitent la caractérisation des matériaux et des dispositifs. Il est idéal pour la microscopie électronique, la métallographie, la recherche sur les matériaux, la nanotechnologie, les procédés semi-conducteurs et l'analyse des défaillances. Le SEM offre une excellente imagerie, des mesures précises et des performances inégalées.