Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293586981 à vendre en France
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Vendu
ID: 293586981
Atomic Force Microscope (AFM)
TFT, 19"
Vacuum chuck
DTR Torsional resonance mode
VT-103-3K-2 Integrated acoustic / Vibration isolation enclosure
NanoScope IVA SPM Control station:
Quadrex Extender electronics with on-board lock-in amplifier
Q-Control
High-speed DSP and SPM computer interface electronics
(6) Analog-to-digital converters
(4) Digital-to-analog converters
Dual monitor color display resolution: 32-Bit, 2048 x 768 pixels
(3) Scanning axes resolution: 16-Bit
Operating system: Windows XP
CE Compliant
Oscillator reference signal:
Line sync (End-of-line)
Frame sync (End-of-frame)
Quadrex Lock-in
Scanning probe microscope:
Samples: Up to 200 mm diameter and 12 mm thick
Magnetic sample holder included for samples less than 15mm diameter and 6mm thick
TrakScan Laser tracking system
Inspectable area: 120 mm x 100 mm
Stage resolution: 2 µm
Vacuum pump
Silicone vibration pad
Motorized optical focus:
Range: 285x - 1285x
Viewing area: 150 µm - 675 µm
Resolution: 1.5 µm
Computer control LED illuminator
Scanning tunneling
Force modulation (air and fluid)
Tapping mode (fluid) microscopy
Nano indenting / Scratching, scanning thermal microscopy
Scanning capacitance microscopy
Repeatability:
Unidirectional: 3 µm (typical), 10 µm (maximum)
Bidirectional: 4 µm (X-axis) and 6 µm (Y-axis), typical
Dimension Hybrid XYZ SPM Microscope head:
Ultra low noise 3-axis closed loop scanner
Scanner
Horizontal imaging area: 90 µm x 90 µm (Nominal maximum)
Vertical range: 9 µm (Nominal), 8 µm (Nominal minimum) in imaging mode
Tip holder
TrakScan Optical lever position detection system
VT-102 Vibration isolation table:
Base with (4) air suspension columns
Required air pressure: 0.8 bar
Minimum door diameter: 70 cm
Size: 610 mm x 610 mm x 787 mm.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS La dimension 3100 est un microscope électronique à balayage haute puissance, polyvalent et fiable (SEM). Conçu pour la recherche scientifique et industrielle, ce microscope de pointe est utilisé pour obtenir des images et des informations précises et détaillées sur les propriétés physiques, chimiques, structurelles et électriques d'un échantillon. Le système dispose d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDX) et d'une chambre d'échantillon à pression variable améliorée. Le détecteur EDX permet de mesurer la composition élémentaire d'un échantillon, tandis que la chambre à pression variable améliore l'efficacité et la flexibilité de l'utilisateur en permettant de réaliser des essais d'échantillons sans nécessité d'évacuation. VEECO Dimension 3100 dispose de modes SEM dualbeam et analytiques, offrant aux utilisateurs une gamme de capacités et d'options d'analyse. Le mode Dualbeam comprend un détecteur de faisceau ionique focalisé (FIB) qui permet une modification précise de la structure d'un échantillon ainsi que l'imagerie des caractéristiques enterrées. Le mode SEM analytique du système fournit des caractéristiques structurelles, compositionnelles et dimensionnelles précises, grâce à son logiciel d'imagerie avancé mais convivial. Le système comprend également une sélection impressionnante d'accessoires, tels que des détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB), des systèmes de cryostage, des étages de nanoscope et des détecteurs de faisceaux d'ions à large portée. Ces accessoires permettent une analyse dynamique détaillée et une imagerie 3D des échantillons. La robustesse et la fiabilité des INSTRUMENTS NUMÉRIQUES Dimension 3100 en font un instrument idéal pour de nombreuses applications, de la recherche sur les matériaux au contrôle de la qualité en passant par le développement de dispositifs semi-conducteurs. Avec ses capacités d'imagerie supérieures, ses logiciels intégrés et ses accessoires polyvalents, Dimension 3100 est un outil fiable et convivial pour la recherche scientifique et industrielle.
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