Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293595294 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie avancées. Il combine sa grande chambre d'échantillonnage de 25,4 mm avec une large gamme de boîtiers de détection, offrant des capacités d'imagerie avancées. L'instrument dispose d'une interface graphique facile à utiliser avec un panneau de façade dédié qui permet aux chercheurs de contrôler tous les paramètres nécessaires. VEECO Dimension 3100 dispose d'une grande zone de détection d'imagerie de 6,2 cm2, avec une résolution de 1280 × 1024 pixels et une large gamme de modes d'imagerie allant de la SEM basse tension à la topographie haute tension et à l'imagerie par diffraction rétrodiffusée électronique (EBSD). Sa grande chambre d'échantillonnage a une capacité allant jusqu'à 11 cellules d'échantillonnage et une pression de chambre variable allant de 0,1 mbar à 0,6 mbar. L'instrument offre également un choix de 4 détecteurs d'imagerie ; un détecteur d'électrons secondaires rétrodiffusés (ESB) filtré, un détecteur d'électrons secondaires (SE) dans la lentille, un détecteur d'ESB à haute énergie et un détecteur nEDXSD rétrodiffusé. Le détecteur d'ESB présente un taux d'acquisition d'image rapide pouvant atteindre 30 images par seconde et un niveau de bruit très faible, offrant un contraste élevé et une définition précise des caractéristiques d'imagerie. Le détecteur SE dans la lentille est conçu pour produire des images cathodoluminescentes à haute résolution et des motifs de diffraction, permettant à l'utilisateur de contrôler le spectre et la luminosité de la lumière émise. Le détecteur nEDXSD fournit des informations élémentaires en temps réel avec un temps de détection inférieur à une minute et une gamme étendue d'éléments détectables allant jusqu'à 20 %. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES La dimension 3100 est également équipée d'un système EBSD de troisième génération qui permet d'indexer rapidement et précisément les motifs de diffraction des matériaux polycristallins. Ce système permet également de classer les cartes angulaires, de caractériser en détail les limites des grains et d'analyser automatiquement l'orientation des cristaux. En outre, l'instrument comprend une étape entièrement intégrée de transfert automatisé des échantillons qui permet le transport pratique et sûr des échantillons du laboratoire au SEM. En conclusion, Dimension 3100 est un microscope électronique à balayage avancé qui offre une large gamme de capacités pour des applications d'imagerie améliorées. Il fournit une grande chambre d'échantillonnage, plusieurs détecteurs d'imagerie et une étape pratique de transfert automatisé d'échantillons, permettant aux chercheurs d'obtenir rapidement et facilement des résultats d'imagerie haute résolution.