Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9112667 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS La dimension 3100 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de capturer une variété d'échantillons en détail à des grossissements allant jusqu'à 300 000 fois. Il utilise une source d'électrons à basse tension et à émission de champ froid pour générer un faisceau hautement fiable pour des applications d'imagerie et de spectroscopie. VEECO Dimension 3100 offre une flexibilité dans son fonctionnement grâce aux systèmes automatisés qui guident et contrôlent l'imagerie. L'échantillon est monté à un étage et automatiquement déplacé par les moteurs de balayage X, Y et Z qui assurent un contrôle précis de la position de l'échantillon. De plus, l'étape de positionnement XY facilitera la remontée verticale de l'échantillon, ce qui facilitera son déplacement au besoin. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES Les paramètres logiciels de Dimension 3100 peuvent être ajustés pour optimiser les paramètres de balayage et effectuer la surveillance et l'acquisition d'images en temps réel. La caméra a une haute résolution, avec 2048 x 2048 pixels à 0,1 μ m par pixel. Le microscope est couplé à un système de commande de détecteur qui permet à l'utilisateur de contrôler tous les aspects de la détection, tels que la définition de la plage angulaire, la bande passante d'énergie et le gain des déflecteurs. Le système peut être équipé de détecteurs spécifiques au processus tels que le détecteur EDS pour l'analyse élémentaire et le détecteur CL pour l'analyse de structure cristalline. Tout cela permet de faire de Dimension 3100 un outil efficace pour l'imagerie, l'analyse et la caractérisation à l'échelle du nanomètre. Les dimensions de ce microscope sont de 295 x 92 x 325 cm avec une hauteur de fonctionnement maximale de 24 cm. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 est équipé d'une variété d'accessoires conçus pour améliorer ses performances. Ceux-ci comprennent la fixation SEFE pour focaliser le faisceau d'électrons, le système d'échange d'échantillons pour commuter rapidement entre les échantillons, et l'étage de cryo pour effectuer des analyses d'échantillons à basse température. Le microscope peut également être équipé d'un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), qui permet d'analyser la composition élémentaire de l'échantillon. Avec VEECO Dimension 3100, l'utilisateur peut acquérir des images SEM de haute qualité, acquérir des données EBSD (Electron Backscattered Diffraction) et EDX, et effectuer une analyse élémentaire basée sur EDX. C'est un outil puissant à la fois pour la recherche à l'échelle nanométrique et les procédés industriels. Avec son automatisation et sa convivialité, DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 est le microscope idéal pour toute application SEM.