Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9160895 à vendre en France

ID: 9160895
Atomic Force Microscope (AFM) Maximum sample size: 8” Diameter, 0.5” thick Inspection area: 100 x 125 mm Small samples: Magnetic holder < 15 mm diameter Silicon wafers: 2”-8" AFM Probe station with shockproof pressure balance system Video zoom microscope Integrated zoom optical microscope Objective: 10x (Long working distance) (2) TV Camera tubes Motorized zoom system Motorized focus Lens illumination Color video camera Focus tracking and automated engagement Magnification range: 410-1845x With 13” monitor Field of view: 180-810 µm Cantilever holder Standard: Tapping mode Contact AFM, MFM Fluid cell: Fluid contact AFM Fluid tapping mode Parts includes: AFM Probe station D3100-1 AFM Probe and test bench D3100HP-2 AFM NanoScope Dimension 3100 controller NanoScope IV AFM Scanning probe microscope controller AFM Control personal computer system: ViewSonic VE 700 Dual screen system PC: Intel pentium 4 CPU DIGITAL INSTRUMENTS Keyboard HBZ3CY400-4XX AFM Test platform manual mouse.
INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Dimension 3100 microscope électronique à balayage (SEM) est un microscope de recherche polyvalent et performant conçu pour diverses applications de recherche telles que l'analyse des matériaux et la nanofabrication. La VEECO Dimension 3100 SEM est équipée d'une source de filament de tungstène haute résolution, d'une grande chambre d'échantillonnage et d'une source d'émission sur le terrain qui fournissent ensemble une gamme de capacités comprenant l'imagerie, la tomographie automatisée, la lithographie par faisceau d'électrons, la microanalyse et l'analyse de surface des matériaux. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 dispose d'un équipement d'imagerie intégré qui permet aux utilisateurs de prendre des images 3D d'échantillons structurés et non structurés à des résolutions allant du sous-nanomètre au micromètre. Cela permet une mesure et une imagerie extrêmement précises des surfaces de matériaux, permettant l'étude de la structure et de la nanofabrication. La technologie intégrée de capture et d'analyse d'images permet également une tomographie automatisée pour l'imagerie tridimensionnelle de matériaux sous-micrométriques. La dimension 3100 présente également une source d'émission sur le terrain, permettant une imagerie et une analyse à l'échelle nanométrique extrêmement précises. Cette fonctionnalité permet de puissants systèmes de microscopie qui peuvent détecter et mesurer des objets qui sont aussi petits que 1nm en travers. En outre, en raison de la source d'émission de champ, les microscopistes peuvent atteindre une profondeur de champ qui est 20x meilleure qu'une source de tungstène conventionnelle. Cette profondeur de champ améliorée permet une meilleure analyse des détails fins. La grande chambre d'échantillonnage de VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 SEM permet également aux utilisateurs d'explorer des grossissements élevés sur divers types d'échantillons. Cette chambre peut manipuler des échantillons de tailles allant de très grandes (supérieures à 10 cm) à très petites (inférieures à 1 cm). Il est également très polyvalent, avec une variété de supports disponibles pour l'analyse de grands et petits échantillons. En outre, ce SEM est également équipé de commandes d'étage automatisées, permettant un positionnement précis x-y-z des échantillons, ce qui améliore encore la capacité de ce système de microscope. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage VEECO Dimension 3100 est une unité de microscopie incroyablement précise et polyvalente idéale pour de nombreuses applications de recherche, grâce à sa capacité à détecter des détails aussi petits que 1nm, sa grande chambre d'échantillonnage, sa machine d'imagerie intégrée et sa source d'émission sur le terrain.
Il n'y a pas encore de critiques