Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9199313 à vendre en France

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 9199313
Atomic Force Microscope (AFM) NS5 Controller Operating system: Windows 7 Vibration enclosure included.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 est un microscope à sonde à balayage (SPM) qui combine une pointe de sonde physique, un contrôleur et un ordinateur pour permettre l'imagerie à l'échelle nanométrique. Il se compose d'un étage de balayage grossier à trois axes et d'un étage de balayage vertical à deux axes, qui permettent tous deux un déplacement précis de l'échantillon dans les directions x, y et z. Le contrôleur est équipé d'un piézo-scanner pour contrôler la distance bout-échantillon, ainsi que des axes x, y et z pour le positionnement et la rétroaction de la position de l'échantillon. Le contrôleur et l'ordinateur sont tous les deux intégrés dans le même poste de travail pour la commodité et le temps minimal d'installation. VEECO Dimension 3100 propose deux modes d'imagerie distincts : le mode contact et le mode sans contact (NC). En mode contact, la pointe du microscope est mise en contact avec la surface de l'échantillon puis balayée à travers celui-ci. Les images sont obtenues en mesurant les forces entre les molécules de l'échantillon et l'extrémité de la sonde. Ce mode est idéal pour l'imagerie de matériaux doux et fragiles. Alternativement, le mode NC permet l'imagerie et la manipulation de surfaces, où la pointe est placée à des distances sous nanométriques de la surface. Les images peuvent alors être obtenues en mesurant les différences de courants de tunnel entre l'échantillon et la pointe de la sonde. Ce mode est adapté à l'imagerie et à la manipulation de matériaux durs, tels que des semi-conducteurs. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES La dimension 3100 est également capable de surveiller en temps réel les processus de surface à l'aide de la technologie SFV (Scanning-Fourier-Viewing), qui enregistre la phase ou l'amplitude du signal reçu du détecteur NSOM. Les données sont collectées de manière automatisée sans intervention de l'utilisateur, ce qui permet d'analyser les processus de surface dynamiques. En outre, le mode SFV permet également l'imagerie spectroscopique à haute résolution, ce qui est utile pour explorer les propriétés électroniques de surface et les phénomènes à l'échelle moléculaire. La dimension 3100 est un outil rentable pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique. Son poste de travail intégré élimine le besoin d'équipements externes de traitement des données et son logiciel de contrôle convivial le rend facile à utiliser. Le logiciel permet également un traitement et une visualisation faciles des données et fournit une sélection d'outils graphiques pour améliorer l'analyse et l'interprétabilité des résultats. Ses capacités d'imagerie et de manipulation fiables, ainsi que son fonctionnement efficace en font un excellent choix pour la recherche en nanotechnologie dans les sciences de la vie, les sciences des matériaux et l'électronique.
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