Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9203566 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS La dimension 3100 est un outil de métrologie et de caractérisation à l'échelle nanométrique avancée. Il s'agit d'un microscope à balayage commandé par ordinateur qui fournit à la fois des capacités d'imagerie de haute qualité et des capacités analytiques approfondies. Le 3100 possède un microscope à balayage avancé à tunnel (STM), un microscope à force atomique (AFM), un microscope à force magnétique (MFM) et une combinaison de modes environnementaux, ainsi que l'imagerie électronique secondaire (SEI). La partie STM de VEECO Dimension 3100 permet aux utilisateurs d'afficher des caractéristiques jusqu'à 0,1 nm, ce qui permet d'observer des atomes et des liaisons individuels. La STM permet également la manipulation in situ des surfaces des échantillons. Cette caractéristique permet de tester des réactions catalytiques, de déplacer des particules et de vérifier l'intégrité à différents stades de la réaction. Cela peut être utile pour la recherche dans des domaines tels que la microélectronique, la nanofabrication et le développement de médicaments. La partie AFM de la 3100 est conçue pour mesurer avec précision les propriétés physiques d'un échantillon, telles que la rugosité de surface, l'angle de glissement et le frottement. Il le fait en scannant la surface de l'échantillon avec une sonde spécialisée et en interprétant les informations recueillies. Les utilisateurs peuvent également mesurer les courbes force-distance sur l'échantillon, qui sont importantes pour mesurer les propriétés mécaniques et électriques d'un matériau. Le MFM fournit une rétroaction statique et dynamique sur les matériaux ferromagnétiques. Il utilise une combinaison de force de Lorentz et de force magnétique pour mesurer des propriétés telles que l'anisotropie magnétocristalline et la mobilité des parois du domaine. La composante MFM de DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 permet de caractériser des films magnétiques minces et d'autres conceptions de capteurs nanométriques. Le mode environnemental de Dimension 3100 permet d'étudier des matériaux dans des conditions différentes, telles que la température et la pression. Cette caractéristique peut être particulièrement utile dans la recherche axée sur la fabrication de semi-conducteurs, car elle permet aux utilisateurs d'étudier les effets des températures de réaction, ainsi que d'autres effets environnementaux, sur les procédés de fabrication. Enfin, la composante SEI de VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 permet l'imagerie de surfaces de spécimens à des grossissements plus élevés. Cela permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les limites des grains, les interfaces et les bosses de l'échantillon. SEI est utile pour la recherche sur les films minces, les nanomatériaux et d'autres domaines connexes. En conclusion, VEECO Dimension 3100 fournit un outil puissant et multifonctionnel pour la métrologie et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Il combine le microscope à balayage, le microscope à force atomique, le microscope à force magnétique, le mode environnemental et l'imagerie électronique secondaire pour fournir un ensemble complet de fonctionnalités aux utilisateurs. C'est un choix idéal pour les chercheurs dans les domaines de la microélectronique, de la nanofabrication et du développement de médicaments.