Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9227547 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Scanning Probe Microscope (SPM) est un microscope de niveau recherche qui permet l'imagerie, la cartographie et l'analyse d'objets trop petits pour être vus avec des microscopes optiques traditionnels. Cet outil avancé utilise des cantilevers piézoélectriques pour détecter les changements de position à l'échelle du nanomètre pour les mesures 2D et 3D. Le microscope VEECO Dimension 3100 est largement utilisé par les scientifiques et les chercheurs des milieux universitaires, industriels et gouvernementaux pour étudier les structures nanométriques, telles que les protéines, les polymères, les semi-conducteurs et les nanofils. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES Le microscope de dimension 3100 comprend plusieurs composants, tels qu'un petit cantilever et une caméra sCMOS haute résolution. Le cantilever est fait d'un matériau piézoélectrique, qui se dilate ou se contracte en réponse à un champ électrique. Le cantilever est monté sur la tête de balayage du microscope, qui manœuvre le cantilever sur un échantillon situé sur une micropuce prépositionnée. La pointe du cantilever a la sensibilité nécessaire pour détecter les petits changements de nanomètre dans l'échantillon. La caméra sCMOS, quant à elle, est couplée à l'optique du microscope pour capturer ces changements et les transférer à un ordinateur pour une analyse plus approfondie. Le sous-système SPM du système dispose d'algorithmes de rétroaction propriétaires et d'un module capteur pour réguler le détecteur d'échantillons en porte-à-faux. En outre, le système est capable de scanner des zones aussi petites que 0.1nm et de créer des images en pleine couleur avec des résolutions jusqu'à 100nm. Avec le module de gestion des images du logiciel, il est également facile de stocker, d'organiser et d'accéder à toutes les images capturées. Le microscope Dimension 3100 offre une gamme complète de modes d'automatisation et d'outils d'analyse de données, y compris le mode de combinaison pour l'analyse par balayage et le spectre de fréquence de contact pour les échantillons dynamiques. Ce SPM est conçu pour extraire des informations très précises, même sur des surfaces rugueuses, inégales et en trois dimensions. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS La dimension 3100 est réglable et fiable et peut être calibrée pour accueillir de nombreux échantillons et applications différents. Il peut être modifié pour inclure des étapes plus froides, ajoutant à sa polyvalence dans l'étude des matériaux à des températures inférieures à celles réalisables avec d'autres conceptions de SPM. Dans l'ensemble, VEECO Dimension 3100 Scanning Probe Microscope est un outil de recherche incroyablement puissant, permettant aux scientifiques d'obtenir des informations précises et détaillées à l'échelle nanométrique sur leurs matériaux d'échantillonnage. Avec son cantilever très sensible, sa caméra haute résolution et sa suite d'outils d'automatisation et d'analyse de données, il constitue une ressource inestimable pour les chercheurs sur les phénomènes nanométriques.