Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M #9401449 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) qui excelle dans le domaine des applications d'imagerie telles que la topographie de surface et l'analyse des défauts, l'analyse des couches minces, la caractérisation des nanoparticules et la manipulation des échantillons. Ce microscope utilise à la fois la microscopie électronique à balayage et à transmission, offrant une résolution et une précision d'imagerie inégalées. Au cœur du microscope se trouve sa source d'électrons, un canon à émission de champ Schottky haute performance (FEG). La FEG produit un faisceau d'électrons qui sont accélérés et focalisés à l'aide d'une série de lentilles, ainsi qu'un mécanisme de déviation et de balayage du faisceau d'électrons à travers l'échantillon. Cela permet une large gamme de réglages de grossissement de 100 nm à 200 nm, permettant à l'utilisateur d'inspecter les caractéristiques de l'échelle nanométrique avec beaucoup de détails. VEECO Dimension 9000M dispose également d'un détecteur de champ sombre annulaire à angle élevé réglable (HAADF) qui augmente la détection des électrons de diffusion à angle faible, et donc améliore la résolution de contraste de l'image produite. De plus, la chambre optique est équipée d'un étage d'auto-alignement, assurant un alignement et un réglage stables entre les sources d'électrons, la lentille et le détecteur, ce qui donne une qualité d'image optimale. DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 9000 M comprend également un système de contrôle informatique avancé, permettant aux utilisateurs de stocker, gérer et rappeler facilement les paramètres d'imagerie. Ce système permet également de contrôler en temps réel la température de l'échantillon, la hauteur de l'étage, la tension d'accélération et la vitesse de balayage. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M dispose également d'un environnement logiciel interactif qui permet de personnaliser une grande variété de paramètres. Il s'agit notamment de la force du champ magnétique d'un échantillon et de son emplacement exact, de la taille et de la forme du porte-échantillon et de l'énergie du faisceau d'électrons. Dimension 9000M est un microscope électronique bien arrondi qui est conçu pour caractériser de la manière la plus efficace et la plus précise une large gamme de caractéristiques nanométriques jusqu'au niveau de sub-5 nm. La capacité d'imagerie exceptionnelle de ce microscope, combinée à son système de contrôle convivial, permet une visualisation rapide et précise des détails qui peuvent être difficiles d'accès avec les modèles SEM antérieurs.