Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension X1D #9298800 à vendre en France
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ID: 9298800
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2004
Atomic Force Microscope (AFM), 12"
2004 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension X1D Scanning Probe Microscope (SPM) est un instrument de haute performance pour l'imagerie et la manipulation au niveau atomique. Sa capacité à acquérir des ensembles de données de topographie, de STM conductrice, d'électrochimie et de spectroscopie élémentaire EDX lui permet d'imaginer et de caractériser des surfaces avec une résolution latérale inégalée. L'équipement de base du X1D est construit autour du matériel basé sur SEM et dispose d'un étage entièrement automatisé et d'une commande logicielle sophistiquée à 6 axes. Cela offre une imagerie topographique avec une résolution, une vitesse et une précision à l'échelle du nanomètre. Le positionneur de cantilever du X1D et un objectif d'immersion liquide créent un environnement d'échantillonnage unique pour le contrôle environnemental et les capacités d'imagerie même dans les conditions ambiantes. La technologie STM exclusive du X1D avec son système d'actionnement direct Piezo (DPAS) offre une grande variété de modes de rétroaction et de capacités d'imagerie qui sont entièrement différents des SPM classiques. Il permet une imagerie fiable et sensible à travers un large spectre de régimes de courant tunnel, permettant de capturer des images à plus haute résolution dans des conditions où les SPM électrostatiques équivalents ne peuvent pas. Pour l'imagerie tridimensionnelle et l'acquisition de données, le X1D supporte une unité avancée de balayage de surface. Grâce à sa capacité à balayer un grand nombre de nanomètres en haute résolution, la technologie de balayage de surface du X1D donne accès à une grande surface de l'échantillon à haute résolution, permettant aux utilisateurs d'étudier les détails et les caractéristiques à l'échelle du nanomètre. Le X1D est également intégré à un ensemble avancé de traitement numérique du signal (DSP) et de techniques d'acquisition de données. Son logiciel Dynamic Signal Analysis permet aux utilisateurs d'extraire des informations de projet et de fonctionnement à une vitesse ultra-élevée à partir de signaux variables dans le temps. Cela aide à effectuer une analyse fréquentielle et temporelle des signaux pour caractériser rapidement des paramètres complexes. En dehors de cela, le X1D permet aux utilisateurs de mener un certain nombre d'expériences électrochimiques sans échantillons humides encombrants. Il supporte la technologie GB-EC (Gel-Based Electrochemical), qui permet l'exécution automatisée d'expériences CE sans bain liquide externe. Il prend également en charge le courant ionique, la chronoampérométrie, la voltamétrie cyclique et d'autres techniques connexes. Dans l'ensemble, VEECO Dimension X1D est un instrument puissant et polyvalent qui permet aux utilisateurs d'étudier et de caractériser les nanostructures avec une haute résolution et précision. Sa combinaison de fonctionnalités matérielles et logicielles et sa capacité à effectuer une grande variété d'analyses le rendent idéal pour une variété de tâches d'imagerie et de manipulation au niveau atomique.
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