Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension #293637706 à vendre en France

INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Le microscope de dimension est un outil d'imagerie puissant et polyvalent utilisé dans la science des matériaux, la recherche et la fabrication. Il a été conçu pour fournir aux chercheurs la capacité d'observer des caractéristiques avec jusqu'à cinq nanomètres de précision. Au cœur du microscope VEECO Dimension se trouve un étage à cinq axes. Cette étape fournit une plate-forme pour la navigation et le contrôle des spécimens avec trois axes de translation et optique de précision pour deux axes de balayage. Le contrôle exigeant de cette étape permet l'observation de matériaux dans trois dimensions de l'espace. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES Le microscope de dimension est équipé d'un objectif 24x motorisé, permettant l'imagerie directe et non destructive des objets avec une résolution allant jusqu'à 5nm. Il comprend également deux optiques permettant d'observer les échantillons avec une lumière transmise ou incidente (TIRF et AFM). Le microscope à lumière transmise (TIRF) offre la commodité de l'imagerie classique en champ lumineux, offrant un contraste élevé et un large champ de vision. Le microscope à lumière incidente (AFM) offre une alternative, fournissant plus de détails d'imagerie et une cartographie de topographie nano-échelle. Le microscope à dimension est également capable de capturer des images à grande vitesse. Avec un appareil photo numérique intégré et une cadence d'image rapide, les images peuvent être acquises avec une résolution et une vitesse qui dépassent les limites optiques. L'imagerie en temps réel en plein champ est capable de capturer les changements et les processus rapides, ce qui en fait un choix idéal pour l'imagerie à cellules vivantes et à résolution temporelle. INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Le microscope à dimension est capable d'analyser des échantillons en trois dimensions simultanément, ce qui signifie qu'il convient à la fois pour la microscopie électronique à balayage (SEM) et la microscopie à force atomique (AFM). SEM est bien adapté pour l'imagerie de matériaux avec un degré élevé de rugosité de surface et est capable d'imager des échantillons en trois dimensions. AFM peut fournir encore plus de détails, et est adapté pour l'imagerie d'échantillons dont la taille est inférieure à la limite de résolution du SEM. Le microscope VEECO Dimension dispose d'une interface graphique facile à utiliser. Cela permet une opération simple, réduisant le temps nécessaire à la préparation et à l'imagerie des échantillons. En outre, le logiciel comprend une variété de modèles et de fonctions de traitement d'images pour l'analyse d'images 3D. Dans l'ensemble, le microscope DIMENSION DIGITAL INSTRUMENTS de VEECO offre un haut degré de polyvalence, de précision et de commodité. Ses capacités sophistiquées, notamment la cartographie multi-axes, l'imagerie haute vitesse et l'imagerie 3D, ainsi que son logiciel convivial font de ce microscope un outil idéal pour la recherche en sciences des matériaux et en nanotechnologie.