Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III SPM / LSSF / DMLS #128345 à vendre en France

INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Nanoscope III SPM/LSSF/DMLS est un microscope à sonde à balayage innovant qui utilise l'optique électronique avancée pour permettre l'imagerie et le profilage extrêmement précis des surfaces. Il est conçu pour l'imagerie haute résolution d'échantillons qui sont trop petits pour être vus par un microscope optique, et dispose d'une variété de techniques d'imagerie pour diverses applications. Une de ses principales caractéristiques est une large gamme de modes d'imagerie qui permettent l'analyse d'une variété de caractéristiques de surface. Au cœur du système se trouve la colonne optique, capable de scanner un échantillon en trois dimensions. En utilisant des interféromètres laser, la colonne peut être positionnée avec précision à travers l'échantillon et est capable d'imager des caractéristiques aussi petites que 25 nanomètres de taille. Le Nanoscope III dispose également de la microscopie électronique à balayage par émission de champ (FESEM) ainsi que de l'analyse des contraintes de surface et des puces (LSSF) capable d'analyser la contrainte de surface globale d'un échantillon et la cinétique de ses puces de matériaux. Grâce à cette fonctionnalité, les chercheurs peuvent comprendre comment une surface d'échantillon se comporte en réponse aux forces mécaniques et environnementales. Une autre de ses caractéristiques est la microscopie dynamique différentielle (DMLS), qui permet l'imagerie directe des déplacements associés aux ondes de surface de l'échantillon. En plus de ces fonctionnalités, le système dispose également de boucles de rétroaction automatisées pour restaurer automatiquement la mise au point, ce qui facilite l'acquisition d'images répétables, et dispose d'un mode pré-balayage optionnel qui permet l'acquisition d'images en temps réel. Le Nanoscope III est un système de microscopie haute performance avec une vaste gamme d'applications. Il est bien adapté à l'imagerie et à l'analyse de petites structures et à la détermination de leurs propriétés mécaniques, à l'analyse des surfaces et des défauts des couches minces, ainsi qu'à l'extraction d'informations critiques pour le développement de nouveaux produits. En combinant une puissante optique électronique et un logiciel d'analyse, le Nanoscope III fournit aux chercheurs un instrument capable de fournir des images de haute précision et des résultats de mesure essentiels pour la science et l'ingénierie de la recherche.