Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III #9276969 à vendre en France

INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Le nanoscope III est une technologie de microscope à balayage de haute précision qui permet l'imagerie et la mesure à l'échelle nanométrique en plein champ. Il est doté d'un revêtement dur multicouche qui utilise l'isolation environnementale et l'optique intégrée pour éliminer les effets de la lumière réfléchie et produire des images plus vives. VEECO Nanoscope III combine les techniques de balayage tunnel et de microscopie à force atomique (AFM) pour fournir aux utilisateurs une résolution, une précision et une reproductibilité sans précédent jusqu'au niveau du nanomètre. Sa conception MEMS offre aux utilisateurs une flexibilité maximale en permettant de reconfigurer le système pour des applications spécifiques, en contrôlant le mouvement du scanner dans les axes X, Y et Z. Il permet également aux utilisateurs de mesurer la taille, la forme et la rugosité de l'échantillon avec une précision sans précédent. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES Nanoscope III est également livré avec une variété d'options matérielles et logicielles. Cela comprend un scanner multi-canaux pour l'imagerie simultanée, un écran haute résolution pour une visualisation facile et un contrôle de mouvement robotique pour les opérations à haut débit. Le nanoscope III est conçu avec un système sensible de détection de force qui a la capacité de déterminer la force appliquée sur une surface d'échantillon avec une extrême précision. Ce système est également conçu pour détecter et mesurer les changements dans les caractéristiques de la surface de l'échantillon dans des conditions thermiques variables. Il peut également mesurer les propriétés du matériau jusqu'au niveau atomique. Cela permet aux utilisateurs de caractériser les matériaux avec une précision et un détail extraordinaires. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Le nanoscope III est également fabriqué avec deux modes de fonctionnement distincts ; Microscopie à balayage (STM) et microscopie à force atomique (AFM). La STM est utilisée pour l'imagerie et la caractérisation de surfaces présentant des caractéristiques nanométriques, tandis que l'AFM est principalement utilisée pour mesurer les forces entre les atomes de surface de l'échantillon. VEECO Nanoscope III prend également en charge plusieurs modes de fonctionnement, dont la cartographie topographique, la cartographie des forces, la spectroscopie des forces, la nanoindentation, etc. Équipé d'un contrôle thermique automatisé, DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III est capable de maintenir la stabilité de la température jusqu'à 100 nm. Cela permet aux chercheurs de mesurer, d'imaginer et de caractériser le comportement du matériau dans des conditions de température extrêmes. Nanoscope III est conçu pour répondre aux demandes uniques des clients. Sa conception exceptionnelle comprend la construction de cadres ergonomiques, des systèmes d'entraînement améliorés, et une foule de fonctionnalités avancées qui en font l'un des microscopes de sonde à balayage haut de gamme sur le marché aujourd'hui. Il est également compatible avec une variété d'accessoires et de systèmes de microscope électronique, permettant aux chercheurs de maximiser leur efficacité.