Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #293759079 à vendre en France

ID: 293759079
Atomic Force Microscope (AFM) Controller Monocular Cold fiber light source MMSTMLC STM Converter STM Heads STM OP Manuals PC Laser filter NanoProbe SPM Nanotip.
INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Nanoscope IIIa est un microscope à sonde à balayage (SPM) conçu pour la caractérisation de surfaces avec une précision et une flexibilité sans précédent. Il dispose d'un large champ de vision optique qui permet une plage d'imagerie exceptionnelle, nécessite très peu d'intervention personnelle, et fournit une large plage de mesure. VEECO Nanoscope IIIa est équipé d'une tête d'imagerie à haute résolution reconnue par l'industrie et capable de fournir une qualité d'image avec une résolution spatiale améliorée. Il comprend également un système de focus intégré et une large gamme de techniques de SPM multi-modes. Au cœur, DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A exploite une unité de reconnaissance automatisée de la courbe de distance de force (FDC), permettant aux opérateurs de configurer les paramètres de mesure appropriés pour l'application spécifique. Cette procédure automatisée garantit la production de données de la plus haute qualité et maintient la cohérence entre les opérations de mesure. De plus, cette machine permet la collecte automatique et manuelle de données. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A utilise une conception avancée de cantilever à semi-conducteur et un large choix de conseils d'imagerie assurant une précision unique et une imagerie haute résolution de la surface de l'échantillon. De plus, cet outil intègre le traitement avancé des données, la correction des glitch, l'analyse thermique et d'autres options avancées. Au-delà de la simple imagerie, Nanoscope IIIa comprend des fonctionnalités avancées de réduction du bruit, assurant une large gamme de bruit à travers différentes parties de l'actif. Ce modèle comprend également une rétroaction graphique en temps réel de l'échantillon et un équipement automatisé pour établir les paramètres de mesure corrects. Pour compléter, ce système est compatible avec les plates-formes Windows et Linux, permettant une gestion facile de plusieurs instruments et données. Il comprend également la technologie brevetée VEECO TipCheck™, permettant à l'unité de surveiller en permanence l'état de la pointe et d'identifier automatiquement les meilleurs conseils pour chaque mesure. En outre, il offre un large éventail d'options logicielles et comprend une variété d'options de communication à distance pour le contrôle des instruments et la collecte de données. En conclusion, VEECO NANOSCOPE III A est un microscope à sonde à balayage complet qui est construit avec une machine optique de haute qualité reconnue par l'industrie. Cet outil offre un large éventail de fonctionnalités et d'options de collecte automatisée de données, ce qui en fait un excellent choix pour l'imagerie et la caractérisation de surfaces sur un large éventail d'échantillons.
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