Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #9410550 à vendre en France

INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Nanoscope IIIa est une plate-forme de microscopie à balayage de haute précision conçue pour l'imagerie et la mesure de structures de surface à l'échelle nanométrique. Il combine les dernières avancées technologiques en microscopie électronique avec une interface logicielle intuitive qui permet aux utilisateurs de configurer le système sur mesure pour répondre à leurs besoins spécifiques d'application. L'instrument présente plusieurs avancées technologiques innovantes pour garantir des performances optimales. La technologie de positionnement « flip-mode » permet un contrôle précis de la position de la tête de balayage et assure un enregistrement exact entre les données d'image obtenues lors des balayages ultérieurs. De plus, les techniques avancées d'amélioration du contraste permettent aux utilisateurs d'obtenir des images détaillées et de contraste élevé et de mesurer de petites tailles de fonctionnalités. Le module de visualisation d'échantillons du nanoscope IIIa VEECO est équipé d'une source lumineuse Lucite de 4 pouces et 30 watts pour une résolution d'image et un contraste maximum. L'étage d'échantillonnage est de 12 « par 12 », ce qui offre un espace suffisant pour la manipulation de l'échantillon. De plus, le porte-échantillon peut être utilisé pour l'analyse des angles d'inclinaison, l'orientation de l'échantillon et la mesure de la surface de l'échantillon. L'acquisition et la résolution des données de DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A peuvent être adaptées aux exigences spécifiques des applications. Une acquisition de données numériques avec une résolution de 16 bits assure des mesures précises des paramètres et permet aux utilisateurs de personnaliser la vitesse de balayage pour une résolution maximale. En outre, un double faisceau lumineux pour l'imagerie améliorée est également disponible, offrant un contraste et une résolution d'image accrus. NANOSCOPE III A est un instrument polyvalent, adapté à un large éventail d'applications telles que l'étude des nanoparticules, nanotubes, matériaux cristallins et la caractérisation à haute résolution des matériaux semi-conducteurs, pour n'en citer que quelques-uns. Il est également compatible avec une variété d'accessoires, y compris les sondes tactiles, les pinces et l'imagerie par faisceau électronique à balayage. En fonction des exigences spécifiques et du type d'échantillon, le système peut être configuré pour fournir une imagerie optimisée et la mesure de structures aussi petites que quelques nanomètres. Avec ses fonctionnalités avancées, son interface logicielle intuitive et ses performances supérieures, VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A offre des performances supérieures pour toute application de microscopie de sonde à balayage.