Occasion VEECO Dimension 3000 SPM #9113918 à vendre en France

VEECO Dimension 3000 SPM est un microscope à force atomique de haute précision (AFM) qui combine performances et fonctionnalité révolutionnaires avec miniaturisation, maximisant la flexibilité et la précision de l'utilisateur à l'échelle nanométrique. Ce microscope permet aux scientifiques et aux ingénieurs de faire des mesures fiables des caractéristiques nanométriques qui n'étaient pas accessibles auparavant. Il est idéal pour des applications telles que la recherche sur les nanomatériaux, la nano-électronique, la photonique et les dispositifs photovoltaïques, ainsi que la recherche en biotechnologie. La construction ultra robuste de la Dimension 3000 garantit une fiabilité supérieure et une plus grande précision des mesures. Il dispose d'un système de contrôle de balayage intelligent pour un contrôle de position et de mouvement précis. Un bras de contre-réaction en flexion innovant permet le fonctionnement sur des surfaces rigides, y compris celles avec des hauteurs de pas élevées. Ce système de commande de mouvement assure une manipulation et un contrôle précis de la position de l'échantillon tout en évitant les artefacts induits par les membres. Les implémentations de scan supérieures offrent un large éventail de combinaisons de modes. La performance de positionnement et d'imagerie haute performance de Dimension 3000 SPM est dérivée d'une combinaison de conception et de construction de pointe. Il dispose d'une architecture ouverte modulaire, permettant à l'utilisateur d'augmenter la complexité et la fonctionnalité du microscope, et l'étage d'échantillon est relié à l'AFM avec une barre de charge. L'électronique associée permet aux utilisateurs de générer des échantillonnages complexes avec de petits secteurs et un changement rapide des outils. Avec les capacités de balayage AFM, la Dimension 3000 dispose d'un système d'objectif avancé M2 avec nanoaperture qui permet l'imagerie de masse variable. Cette caractéristique permet aux utilisateurs d'accéder à l'échelle nanométrique avec une plus grande précision, en augmentant la stabilité du laser au microscope tout en maintenant une très faible distance d'interaction et un faible degré de divergence laser. VEECO Dimension 3000 SPM dispose également d'une large gamme de modes et de capacités d'imagerie, allant de l'imagerie de base à des mesures plus avancées, comme le balayage en mode tension et la spectroscopie de force. La Dimension 3000 offre une grande facilité d'utilisation et est calibrée en usine. Il offre un module de mesure fiable et fiable, permettant aux utilisateurs de mesurer avec précision les caractéristiques à l'échelle nanométrique avec un minimum d'effort. De plus, l'interface graphique intuitive de l'AFM facilite l'utilisation et l'accessibilité et offre une gestion pratique des données acquises. La portabilité des données du logiciel permet de partager des ensembles de données complexes avec des collègues et des institutions du monde entier. La combinaison d'un contrôle de mouvement supérieur et de capacités d'imagerie avancées permet à Dimension 3000 SPM d'offrir un accès à des caractéristiques nanométriques avec une vitesse et une précision sans précédent.